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多功能原子力顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京億誠恒達科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號FLEX-AFM
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質代理商
  • 更新時間2020/11/20 10:05:55
  • 訪問次數557
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公司主營1,電化學工作站;旋轉盤電極,石英晶體微天平;

2,熱分析儀,TG-DTA,DSC,TG-DTA-MS,TMA;
3,原子力顯微鏡,三維表面形貌儀,輪廓儀,臺階儀;
4,材料疲勞試驗機,高頻疲勞試驗機,摩擦試驗機;
5,儲氫材料PCT測試儀,氣體純化器;
6,EL-CELL鋰電池電化學膨脹儀。

電化學工作站,原子力顯微鏡,疲勞試驗機,熱分析儀等
多功能原子力顯微鏡
FlexAFM原子力顯微鏡是Nanosurf公司新研發的在大氣環境和液體環境下都可以進行測試,并且可與倒置光學顯微鏡和溫度樣品臺聯用。可以滿足絕大多數研究的需要。
多功能原子力顯微鏡 產品信息

多功能原子力顯微鏡

瑞士Nanosurf公司,的專業研發掃描探針顯微鏡制造商和技術服務供應商,在掃描探針顯微鏡領域有超過15年的研發經驗,一直致力于新型掃描探針顯微鏡的創新性研發和制造。目前已推出新一代低噪音-快速掃描-超高穩定性的AFM 和大掃描范圍Nanite AFM系統。瑞士Nanosurf公司承諾提供品質的服務和客戶支持,同時還提供納米技術的OEM 客戶定制,外包等業務。



技術參數:

1,FLEXAFM原子力顯微鏡測量模式:接觸式原子力顯微鏡(大氣和液態環境),真正非接觸式原子力顯微鏡(大氣和液態環境),橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM),導電原子力顯微鏡,磁力顯微鏡(MFM),開爾文探針(Kelvin Probe),掃描熱原子力顯微鏡(SThM),電容和靜電力顯微鏡(EFM),高級的納米光刻和納米操作能力,音叉原子力顯微鏡,三維掃描成像。

2,掃描范圍:100 um;10 um

3,Z方向范圍:10um;3 um

4,XY方向驅動分辨率:0.152 nm

5,Z方向驅動分辨率:0.046 nm

6,小Z方向測量噪音水平:0.15nm

7,樣品尺寸:直徑100mm



主要特點:

1,FlexAFM無論是在大氣環境下還是在液體環境下都可以進行測試,操作和測試的方便程度是*一樣,沒有什么區別。

 

2,靈活彎曲結構的掃描頭設計,可以引用于平的或粗糙的樣品表面。XY-掃描通過電磁驅動,XY平面的運動是*線性的 。Z方向的運動是通過壓電陶瓷來驅動,Z方向的運動速度很快。

 

3,激光光束進入液體時會發生一定偏移,通常實驗時需要耐心和復雜的調整。而FlexAFM 使用了SureAlign™ 的激光光學系統,無論是在大氣下還是在液體中根本不需要做任何調整。所以FlexAFM 的激光信號永遠處于狀態。

 

4,兩個方向的視窗,非常方便觀察和針尖逼近。并且由于特別的設計,使得無論在大氣環境還是液體環境得到同樣質量的視像。

 

5,FlexAFM 使用"Liquid Ready" easyScan 2控制器, 可以擴展STM 等技術。

 

為了材料研發上的成功,科學家們依賴專業的工具來快速地提供需要的信息,不管是否是手頭的任務通過開發關鍵技術與設計, Nanosurf使得Flex-Axiom成為一款迄今為止強大多功能而且靈活的AFM, 非常方便地進行各種各樣材料研發方面的應用配合功能強大的C3000控制器, Flex-Axiom還可以進行更多復雜的材料表征應用.

 

幾百個研究用戶,多方面應用實例

Flex-Axiom是您可信賴的工具,不管是在表面形貌還是計量成像上,不管在大氣中還是液體環境中當然Flex-Axiom不僅僅可以用于表面形貌測量比如還可以進行高級納米機械性能、電學或者磁學性能表征該系統更能有效地用于樣品的微納米操縱功能.

 

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Topography, KPFM, and MFM images of the same area of a stainless steel sample

 

精確而*的性能方便您研發上的需求

Flex-Axiom使用特殊的線性電磁平板掃描器用于XY移動該掃描器在全范圍內的平均線性度誤差小于0.1%, 屬于AFM市場上的頂配. Z軸由壓電驅動帶有位置傳感器可以實現閉環操作高敏感的懸臂梁探測系統可以測量到MHz測量范圍. Flex-Axiom的測量頭配置的是全功能的帶有數字反饋與兩個雙通道鎖放的24C3000控制器.

 

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Imaging of single and multiple pyrene nanosheets and height analysis with sub-nanometer accuracy. Data courtesy: Mykhailo Vybornyi, University of Berne, Switzerland

 

模塊化設計讓您今天的預算物有所值,讓您未來有更多機會增加配置或需求

Flex-Axiom帶有模塊化的樣品臺設計與各種探針底座類型可以滿足您當前與今后的需求基于C3000控制器, Flex-Axiom可配置14AFM操作功能甚至更多可擴展功能可以進行更多材料開發上面的高級測量與實驗研究ECS 204電化學樣品臺舉例來說可以進行樣品的電化學與以及樣品周圍的環境控制這樣就可以開發更多新的應用.

跟一些我們的高級研發用戶一起用于大范圍納米刻蝕、手套箱內操作、磁阻感應功能都已經被開發出來.

 

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Large-area nano-lithography (Dr. Lu Shin Wong, Manchester, UK)

 

 

 

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Flex-Axiom in glove box (Dr. Philip Kim, Harvard University, US)

 

 

 

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Magneto-resistive sensing (Dr. Jo?o Gaspar, Braga, PT)

 

Flex-Axiom的模塊化概念可以輕松地讓它升級到其他FlexAFM產品線 (如用于生命科學的Flex-Bio, 用于自動納米機械性能分析的Flex-ANA以及用于細胞與納米操縱的Flex-FPM), 給您的Flex-Axiom系統提供了更多的升級與擴展的可能性.

 

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Flex-Bio

 

 

 

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Flex-ANA

 

 

 

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Flex-FPM

 

開發所有的實踐細節,有益于日常操作

FlexAFM視頻選件集成了兩個攝像頭用于頂視與側視可以讓您快速地找到感興趣區域并逼近針尖到樣品表面位置,然后進行全自動逼近.

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Camera optics

 

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Top view

 

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Side view

帶有定位槽結構的探針底座可使用帶有定位溝槽的探針該探針底座提供了微米級別定位精度更換探針無需調節激光; 可以讓您更換探針后依然方便地找到樣品同樣的位置.

多功能原子力顯微鏡

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