TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀是一款利用反射光譜測試薄膜厚度的儀器，可快速精確地測量透明或半透明薄膜的厚度而不損傷樣品表面的薄膜，是一款無損測厚儀，其測量膜厚范圍為15nm-50um，測量膜厚范圍廣，尤其適用于超薄薄膜厚度的測量。儀器所發出測試光的波長范圍為400nm-1100nm，波長范圍廣，因此，測試薄膜厚度的范圍廣。反射光譜薄膜測厚儀測試系統的理論基礎為鏡面光纖反射探頭，該儀器尺寸小巧可節省實驗室空間，操作方便，讀數直觀，方便于在實驗室中擺放和使用。

特點

測量和數據分析同時進行，可測量單層膜，多層膜，無基底和非均勻膜

包含了500多種材料的光學常數，新材料參數也可很容易地添加，支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

體積較小，方便擺放和操作

可測量薄膜厚度，材料光學常數和表面粗糙度

使用電腦操作，界面中點擊，即可進行測量和分析

沈陽科晶自動化設備有限公司是由畢業于美國麻省理工學院的江曉平博士于2000年5月創建。與合肥科晶材料技術有限公司、深圳市科晶智達科技有限公司同屬于科晶聯盟。自*SYJ-150低速金剛石切割機誕生以來，沈陽科晶便開始了以趕超國外同行、材料分析設備潮流為目標的發展歷程。時至今日，已經擁有涵蓋材料切割、研磨、拋光、涂膜、鍍膜、混合、壓軋、燒結、分析等領域以及相關耗材的上百種產品，可以滿足晶體、陶瓷、玻璃、巖相、礦樣、金屬材料、耐火材料、復合材料、生物材料等制備分析的全套需要。