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Minitest4100

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱上海鼎徵儀器儀表設備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質代理商
  • 更新時間2022/8/19 17:16:58
  • 訪問次數240
產品標簽:

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  上海鼎徵儀器儀表設備有限公司(簡稱“鼎徵設備”),位于上海市。公司一貫堅持“質量為本,用戶*,優質服務,信守合同”的宗旨,憑借著高質量的產品,良好的信譽,優質的服務。竭誠與國內外商家雙贏合作,共同發展,共創輝煌!
檢測設備
德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能
Minitest4100 產品信息
德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。
 

MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能
型號
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)
1
1
10
99
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計,可設寬容度極限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和時間標識特性的組數
-
1
500
500
數據總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar
-
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar
-
-
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據
-
-
-
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值
-
-
顯示并打印測量值、打印的日期和時間
-
其他功能
透過涂層進行校準(CTC)
-
在粗糙表面上作平均零校準
利用計算機進行基礎校準
補償一個常數(Offset)
-
-
外設的讀值傳輸存儲功能
-
保護并鎖定校準設置
更換電池是存儲數值
設置極限值
-
-
公英制轉換
連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別***大***小值
-
-
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數
-
-
浮點和定點方式數據傳送
組內單值延遲顯示
-
連續測量模式中顯示***小值

可選探頭參數(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇***適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
量程
低端
分辨率
誤差
***小曲率
半徑(凸/凹)
***小測量
區域直徑
***小基
體厚度
探頭尺寸



 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm

 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
注:F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

探頭圖示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板
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