• 簡介

• TH2826 系列元件測試儀是符合 LXI 標準的新一代阻抗測試儀器，其 0.1% 的基本精度、 20Hz ～ 5MHz 的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求，可測量低 ESR 電容器和高 Q 電感器的測量。可用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析。

  TH2826 系列產品是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試強有力的工具。其超 高速的測試速度使其特別適用于自動生產線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等 等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。

    性能特點

    ■ 符合LXI標準

    ■ 測試頻率20Hz～5MHz，10mHz步進

    ■ 測試電平10mV～5V， 1mV步進

    ■ 基本準確度0.1%

    ■ 達5ms的測量速度

    ■ 320×240點陣大型圖形LCD顯示

    ■ 10點多參數列表掃描功能

    ■ 圖形化掃描功能

    ■ 四種信號源輸出阻抗

    ■ 10檔分選功能，分選結果聲音報警

    ■ 存儲空間：20組設定文件，USB擴展

• 應用

• ■ 無源元件

     電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析

  ■ 半導體元件

     LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析

  ■ 其它元件

     印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

  ■ 介質材料

     塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估

  ■ 磁性材料

     鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

  ■ 半導體材料

     半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性

  ■ 液晶單元

     介電常數、彈性常數等C-V特性

  
  

• 技術參數

• 測試參數	C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,θ,DCR
  測試頻率	TH2826A	20 Hz～2MHz,10mHz步進
  測試信號電平	f≤1MHz	10mV～5V,±（10%+10mV）
  	f>1MHz	10mV～1V,±（20%+10mV)
  輸出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
  基本準確度	0.1%
  顯示范圍	L	0.0001 uH ～ 9.9999kH
  	C	0.0001 pF ～ 9.9999F
  	R,X,Z,DCR	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
  	Y, B, G	0.0001 nS ～ 99.999 S
  	D	0.0001 ～ 9.9999
  	Q	0.0001 ～ 99999
  	θ	-179.99°～ 179.99°
  測量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
  校準功能	開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準
  等效方式	串聯方式, 并聯方式
  量程方式	自動, 保持
  顯示方式	直讀, Δ, Δ%
  觸發方式	內部, 手動, 外部, 總線
  內部直流偏	電壓模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
  置源	電流模式（內阻為50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
  比較器功能	10檔分選及計數功能
  顯示器	320×240點陣圖形LCD顯示
  存儲器	可保存20組儀器設定值
  接口	USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
  	USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
  	LAN(LXI class C support)
  	RS232C
  	HANDLER
  	GPIB（選件）