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老化測試系統
BI4201 老化測試系統 可以提供實時監控的溫度環境，對光器件（例如 VCSELs, PIN 或 APD）以及 收發模塊 進行老化測試。被測器件可以是封裝好的器件或其它形 式配合不同的測試夾具。BI4201 由老化板（測試夾 具）、溫箱、電源、控制檢測及風扇系統組成。每塊老 化板獨立供電和監控。且系統支持數據庫，系統軟件可以支持上傳或下載老化數據，利用系統集成的“Quick Check”功能，可以非常方便的準實時查詢每個模塊 或器件的信息。同時為了確保系統可靠地在溫箱內工作于 40~85oC， 每塊老化子板具有獨立的溫度傳感器和風扇控制系統，系統會自動更具反饋系統檢測到的電壓及溫度信息，調 節風扇轉速，以確保整個溫箱內部溫度的均勻性，同時 實時監控可以在探測到失效條件下及時發出告警，并切 斷老化子板的電源，以避免昂貴的器件及模塊大面積失效。BI4201 的整體架構通過集成通用器件和驅動電路，從 而顯著降低了系統的成本。系統尺寸可以根據用戶需求進一步優化。
2 本系統可以集成溫箱、電源、控制電路、LIV 測 試系統及基于數據庫的系統軟件；
2 標準系統支持同時測量 384 pcs (O/E 器件系統) 或 224 pcs (100G 收發模塊系統)，同時系統具有很大的靈活
度，可以根據用戶空間和具體要求定制化；
2 清晰直觀及靈活有好的用戶使用界面，可以方便查詢模塊器件的信息機狀態；
2 系統支持可編程的告警狀態及提醒功能；
2 圖形化顯示器件性能老化前后的劣化；
2 全部結果支持數據庫記錄和導出；
2 支持 LIV 測試(可選件)；
2 支持 LIV 掃描及單點測試。
BI4201-OE OE 老化系統
BI4201-OE 選件是專門針對 OE 器件老化的系統，該系統在溫箱內由 8 個子系統，且每個子系統支持 6 個老化 板，每個老化板支持 8 個 OE 器件，總共單個溫箱支持8*6*8=384pcs 器件 (VCSEL/PD/APD) 同時老化。每個 Panel 背板上帶有 4 只溫度監控芯片，整個系統共 有 4*6*8=192 只溫度監控芯片，可以對烤箱內部做溫度的立體監控;烤箱內部配有風扇，每 4pcs 模塊配有一個風扇，根據 監控到的溫度再微調風扇轉速，以保證內部溫度的均勻 性;系統對每個風扇實時監控，以及時發現故障風扇
;
BI4201-MOD 模塊老化系統
BI4201-MOD 選件是專門針對 100G 收發模塊老化的系統，該系統在溫箱內由 4 個子系統，且每個子系統支持7個老化板，每個老化板支持 8 個 100G 收發模塊，總共單個溫箱支持 4*7*8=224pcs 器件 (100G 收發模塊)同時老化。
烤箱內部做溫度的立體監控。電壓傳感器能夠確保每個模塊工作在標稱電壓下；烤箱內部配有風扇，每 4pcs 模塊配有一
個風扇，根據 監控到的溫度再微調風扇轉速，以保證內部溫度的均勻 性;系統對每個風扇實時監控，以及時發現故障風
扇;系統電源采用四個 500W 帶補償功能的開關電源，以確保模塊可以獲得穩定電源，每只模塊允許功耗為5W。烤
箱內部配有風扇，平均每16pcs 模塊配有 3 個風扇， 根據監控到的溫度再微調風扇轉速，以保證內部溫度的 均勻性。
BI4201-LIV LIV 測試系統
BI4201-LIV 選件是針對器件 LIV 測試應用的，LIV 測試系統能夠自動比較 48 小時或 96 小時老化前后的 LIV 測試結果，從而做出篩選。同時 LIV 系統兼具 FW Load 功能，可以一次性對 2 個 Panel 同時進行 FW Load
Oven # | Full Loading Temperature/℃ Half Loading Temperature/℃ |
Min Max Min Max | |
1 | 85.8 98.8 87.8 96.8 |
2 | 85.5 99.6 85.6 98.9 |
3 | 86 96.1 87.1 99.4 |
4 | 84 97 84.7 98.5 |
5 | 84.2 96 85.8 98.3 |
6 | 85.1 96.7 85.1 98.9 |
7 | 85.2 99.2 85.4 96.8 |
8 | 85 97.9 86 97.8 |
9 | 86 95.4 84.6 96.2 |
高精度 LIV 測試
老化系統工作流程
