Hprobe 晶圓級測試儀

參考價	面議

參考價

面議

具體成交價以合同協議為準

公司名稱北京普瑞億科科技有限公司
品牌
型號
所在地北京市
廠商性質其他
更新時間2022/8/30 10:31:44
訪問次數362

產品標簽:

在線詢價收藏產品點擊查看電話

聯系我們時請說明是智能制造網上看到的信息，謝謝!

索取相關資料

公司介紹主營產品

本公司一貫倡導人性化管理，我們的人力資源開發(fā)工作始終堅持“尊重人、培養(yǎng)人、成就人”的人才理念，堅持觀念創(chuàng)新、制度創(chuàng)新，為人才的成長與競爭營造一種“公平、公正、公開”的氛圍，建立一套尊重人才、培養(yǎng)人才和充分發(fā)揮個人潛能的機制，保障了企業(yè)的發(fā)展壯大與實現個人大價值的*、和諧統(tǒng)一。

一、我們需要什么樣的人

1、價值觀

任何員工的價值觀必須與公司的價值觀保持*。

我們的主要價值觀：

(1)誠信：誠信壓倒一切！

(2)直面現實：改變的較佳時機是你想改變的時候，而不是你不得不改變的時候。

(3)規(guī)范：規(guī)范保證我們的生存和穩(wěn)定！

(4)創(chuàng)新：公司鼓勵員工用新的構想來挑戰(zhàn)他們的上司，創(chuàng)新是保證本公司跨越式發(fā)展的原動力！

(5)執(zhí)行：缺乏執(zhí)行力的人在本公司沒有市場！

2、能力

永遠保持強烈的學習欲望，通過自己的努力來體現自己的能力！一個人如果沒有強烈的學習欲望，就不能在工作中主動地提高自己的能力，他將不能勝任發(fā)展中的工作。任何優(yōu)秀人才如果沒有什么表現，縱然是才高八斗學富五車，也是他個人的，不是社會的，必須要有所表現并貢獻出能力，才會有益于人群。

3、以上兩點缺一不可。如果同時滿足以上兩點，立即予以重用。

二、我們對新員工的建議

1、不要等待，去積極創(chuàng)造能讓自己表現出能力的機會。

2、新老員工為了表現自己的能力，可以向公司索要發(fā)揮才能的“平臺”。有了“平臺”，表現出了才能，是在本公司得到晉升的*途徑！

3、不去爭取，不思上進，牢騷滿腹的人不會得到提升。

三、我們對人才的態(tài)度

優(yōu)秀人才永遠是本公司重要的資源，本公司*層永遠期盼優(yōu)秀人才的加盟，并愿意為其做一切合理的事情。

展開顯示更多內容

光譜元素分析系統(tǒng)，同位素比質譜分析儀，液體閃爍計數儀

產品簡介在線詢價

Hprobe測試儀是磁場下晶圓級表征及測試的工具

Hprobe 晶圓級測試儀產品信息

Hprobe 測試儀是磁場下晶圓級表征及測試的工具。它采用自主研發(fā)的3D磁場發(fā)生器和*的、可定制的、商業(yè)化硬件，為傳感器到MRAM等磁性器件，提供完整的測試解決方案，該工具符合晶圓自動化測試的標準。

主要特點

大范圍面內和垂直場
磁場三維可控
旋轉磁場
嵌入式傳感器校準 ( Hall 傳感器 )
自動化測試程序
MRAM 參數提取軟件
100mm~300mm 晶圓可測
兼容標準探針卡

技術說明

磁性3D發(fā)生器
Hprobe 測試儀采用自主研發(fā)的3D磁場發(fā)生器，其中每個磁場的空間軸都是獨立驅動。通過控制3個軸的磁場，用戶可實現任意方向磁場，同時也可產生旋轉磁場。發(fā)生器提供所有的控制儀器、控制程序和校準工具。
3D磁性發(fā)生器位于探測器上，在晶圓上生成局部磁場，探針位于磁場發(fā)生器與晶圓之間。發(fā) 生器和探測器卡盤之間的標準z軸間距為 1mm，500µm 到 5mm 內可調。

校準
測試儀并沒有為所有可能的磁性配置提供詳盡的標準數據表。但用戶能夠自定義額外定制磁場類型，校準相應的線圈電流以產生需要的場類型。
校準包括：
§ 將理論磁場應用于待測器件
§ 沿三軸測量感興趣區(qū)域內的磁場測量數據用于補償和調整在晶圓測試期間施加的磁場。
校準測量用嵌入在探測器內的3D霍爾傳感器完成。

3D 校準傳感器特征
§ 角精度高
§ 靈敏度5V /特斯拉
§ 測量范圍2特斯拉
§ 差分輸出
§ 溫度靈敏度：<100 ppm/°
§ 在探頭上集成溫度傳感器用于溫度補償

晶圓探測器
Hprobe 測試儀是由工業(yè)標準的晶圓探測器構成，囊括100mm手動探測器至300mm全自動，適于生產的探測器。探測器通常包括：
§ 溫控卡盤（熱/冷）
§ 探針卡定位可視化操作
§ 晶圓裝填器
§ 單一晶圓承載器
§ 嵌入式校準傳感器
§ 破碎晶圓承載器（可選）

其他特定的HW/SW探針選項可根據客戶要求定制。
探測器控制是通過我們的測試程序驅動的，針對探測器功能提供*的用戶訪問權限。

儀器
Hprobe測試儀提供全套儀器來驅動和測量大多數磁性器件，比如 MRAM（STT，SOT，電壓控制），傳感器（AMR，GMR，TMR）和磁性MEMS。

預定義的儀器包括批量生產的源表（SMU），數字萬用表（DMM），任意波形發(fā)生器（AWG）和脈沖發(fā)生器。其他儀器可根據要求提供，并且可以輕松地集成在該工具的硬件和軟件中。

源測量單元 (S M U )
§ 最小測量范圍 20mV
§ 最小量程 1nA
§ > 3,000 讀數/秒
§ 白噪聲 2mV rms

數字萬用表（ DM M ）
§ 18位，最小測量范圍 100mV
§ 分辨率 10nV
§ 最小記錄時間 1µs

任意波形發(fā)生器（ AW G ）
§ 雙通道，帶寬 40MHz
§ 正弦波，方波與脈沖高達 30MHz
§ 斜率 & 三角波達 200kHz
§ 每個通道的任意波形 < 1Msample
§ 采樣率 250Msample/秒

脈沖發(fā)生器
§ 最小脈沖寬度 300 ps
§ 脈寬精度 10 ps
§ 上升/下降時間 < 70 ps (20%-80%)
§ 輸出幅度 10 mVpp~5 Vpp
§ 重復率 500 MHz/每通道
§ 觸發(fā)到輸出晃動 < 35ps RMS

探針
Hprobe測試儀易拓展，用戶可使用工業(yè)用探針，也可以使用裝有DC和RF探針的顯微操縱器。的限制是磁場發(fā)生器和晶片之間的間隔在高磁場下必須保持盡可能的（<1mm）。

測試程序
測試程序包括用于滿足用戶需求的所有功能，從材料表征到產品開發(fā)，到生產轉化。它以三種模式運行：
§ 校準 - 設置磁場的配置和創(chuàng)建用戶定義模式 (見下圖)
§ 工程 - 運行預先實施的測試模式或創(chuàng)建并運行完整的自定義特性描述和測試程序。
§ 生產 - 從工程模式中利用優(yōu)化時間來設置測試程序。

預先實施的測試模式包括（有或者無磁場）：
§ 開放/短期測試
§ 交流/直流電流-電壓，R-V 測試
§ 交流/直流擊穿電壓測試
§ 讀/寫脈沖測試
§ 隧道磁阻
§ 誤碼率
§ 器件循環(huán)測試
§ （I，V，H）相圖

生產廠家：法國 Hprobe

關鍵詞：磁場發(fā)生器磁性器件發(fā)生器探測器霍爾傳感器