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OmniScan X3相控陣探傷儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱深圳市時代之峰科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/12/29 9:53:58
  • 訪問次數302
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深圳市時代之峰科技有限公司成立于2009年11月18日,它是依托多年來形成的檢測儀器領域的技術優勢而建立的專業化高科技企業。深圳市時代之峰公司自成立以來,“深圳市代之峰”努力追求成為政府、企業及社會各單位值得信賴的專業化儀器儀表測試測量方案解決方案專家。通過我們的努力,幫助企事業單位提高工作中的測試測量問題解決水平,很榮幸與您一起道路上壯大。我們堅持以高質優價的儀器、專業的技術解決方案、上等的服務為宗旨,憑借雄厚的技術實力和服務經驗,為用戶提供上等的解決方案。峰的檢測儀器產品包括時代里氏硬度計、邵氏硬度計、洛氏硬度計、粗糙度儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、測振儀、紅外測溫儀、超聲波探傷儀、激光測徑儀等在內的12個系列,近百種型號。
OmniScan X3相控陣探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和上等成像功能,OmniScan X3相控陣探傷儀可使用戶更加充滿信心地完成檢測。
OmniScan X3相控陣探傷儀 產品信息

OmniScan X3相控陣探傷儀

提供全聚焦方式(TFM)功能的OmniScan X3相控陣探傷儀
信心滿滿,昭然可見
OmniScan X3探傷儀是一款功能齊備的相控陣工具箱。這款儀器所提供的性能強大的工具,如:全聚焦方式(TFM)圖像和上等成像功能,可使用戶更加充滿信心地完成檢測。

**的全聚焦方式(TFM)
更好的缺陷成像性能,可以更清晰地顯示微小的缺陷
可為早期的高溫氫致(HTHA)缺陷成像,
以在*為關鍵的早期探測到這種缺陷
機載聲學影響圖(AIM)的反射率模擬器有助于
以圖像方式顯示全聚焦方式(TFM)的靈敏度,還可以根據實際情況進行調節
屏幕上*多可顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,有助于缺陷的解讀和定量

改進的相控陣技術
速度是OmniScan MX2探傷儀的2倍(脈沖重復頻率)
單獨的衍射時差(TOFD)菜單,加快了工作流程
改進的快速相控陣校準,使用戶享有更輕松的操作體驗
800%的高波幅范圍,減少了重新掃查的需要
機載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能,加速了創建設置的過程

迅速地投入到檢測工作中
機載掃查計劃、改進的快速校準和簡化的用戶界面,有助于省去一些不必要的步驟,從而可使用戶在很短的時間內完成檢測的設置工作。
如果您是OmniScan MX2儀器的用戶,您可以從現有的儀器迅速地過渡到OmniScan X3儀器。如果您還不太了解相控陣超聲檢測或全聚焦方式(TFM),您可以通過OmniScan X3探傷儀輕松地學習這些知識。

性能可靠,令人信賴
符合IP65評級標準,防雨防塵
機載GPS,可提供采集數據的位置
可通過無線方式連接到奧林巴斯科學云系統,以下載*新的軟件
得益于25 GB的文件容量,儀器可以無需停歇,持續掃查

OmniScan X3相控陣探傷儀檢測團隊中的主力成員
OmniScan X3探傷儀所提供的功能有助于用戶高效地完成檢測工作。這些功能可以在以下應用中大顯身手:焊縫檢測、管線和管道的檢測、耐腐蝕合金的檢測、腐蝕成像、高溫氫致缺陷(HTHA)的檢測、初期裂紋的探測、復合材料的檢測和缺陷成像。

OmniScan X3相控陣探傷儀與現有的探頭和掃查器相兼容
32:128PR型號,提供64晶片的全聚焦方式(TFM)功能
還提供16:64PR和16:128PR型號
*多8個聲束組,1024個聚焦法則
與OmniScan MX2/SX儀器的文件相兼容,方便了用戶轉換到新儀器的操作
64 GB的內置存儲容量,還可以借助外置USB驅動盤擴展存儲容量

新一代OmniScan帶給您更美好的體驗
OmniScan X3儀器的軟件性能強大,其簡潔、現代的菜單結構減少了按鍵的次數,改進了從開始設置到*后制作報告的整個檢測過程,因此無論新老用戶都會得心應手地使用這款儀器。

OmniScan X3相控陣探傷儀實時全聚焦方式(TFM)包絡處理
儀器的包絡處理功能,可以為缺陷生成高清全聚焦方式(TFM)圖像。圖中的缺陷在背景噪聲的襯托下,顯得更為清晰鮮明。

OmniScan X3相控陣探傷儀屏幕上*多可顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,有助于缺陷的解讀和定量
在同一個檢測中使用不同的全聚焦方式(TFM)模式(聲波組),使檢測人員更有希望探測到方向異常的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以*多同時顯示4種模式的全聚焦方式(TFM)圖像,從而使用戶看到從不同角度生成的圖像。來自每種模式的響應和特征,如:端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面,可被綜合在一起進行分析,從而可以確認缺陷的類型,并提高缺陷定量的性能。

關鍵詞:探傷儀
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