綜合概述

ATX3880是一款X射線熒光側厚儀，主要用于鍍層厚度測量及組成成分的分析。

X熒光光譜技術，是由高能X射線激發原子電子層，使得原子核外電子發生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測系統測量這些能量和數量，從而計算元素含量。

ATX3880為用戶提供了一種操作方便，且性價比的檢測技術，不會損壞被測樣品，可以快速獲得樣件的鍍層厚度和組成成分信息。同時可分析幾十種以上元素，五層鍍層。

ATX3880機身結構小巧結實，外形優美，使用方便，一鍵操作，檢測速度快，分辨率高。可迅速制作樣件的檢驗結果證書。測試數據可同步上傳網絡，易于查看和分享。

產品特點

l 超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測速度、超人性化界面

l 易于使用，一鍵操作，即可獲得鍍層厚度及組成成份的分析結果

l 有助于識別鍍層成分的創新型功能

l 按下按鈕的數秒之內，即可得到有關樣件的鍍層厚度的精確結果

l 可以迅速方便地制作樣件的檢驗結果證書

l 測試數據可以下載和上傳網絡，檢測結果易于查看和分享

l 有X射線防護鎖，只有在封閉狀態下才發射X射線，安全、可靠的保證客戶使用

應用領域

l 電鍍廠

l 電子電器廠

l 鋼鐵廠/合金廠

l

l 汽車制造

l 檢測中心

1. 儀器應用演示

1. 打開儀器上蓋

2. 放入樣品

3. 在軟件中點擊“開始”按鈕，測量完成，顯示分析結果。如下圖

2. 測試樣品示例