X射線熒光光譜儀

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公司名稱蘇州恒測新材料有限公司
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廠商性質其他
更新時間2023/3/4 7:54:55
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蘇州恒測新材料有限公司作為一家專注于材料檢測分析的技術服務中心。我們秉承著“認真，嚴謹，高效”的工作態度，以“溝通，誠信，負責”的服務理念服務于廣大客戶。用科學、*、的檢測技術為科研工作者們提供準確、高效、優質的檢測服務。公司在相關領域擁有雄厚的技術資源及配套的售后服務，擁有由多名博士、碩士和本科學歷人才組成的團隊。公司具有完善的基礎設施、*的檢測設備、良好的工作條件及檢測團隊。主要檢測項目包括：冷場發射掃描電鏡（SEM）；X射線衍射儀(XRD)；核磁共振波譜儀（NMR）；X射線光電子能譜儀（XPS）；化學吸附儀（TPR、TPD）；物理吸附儀（BET）；熒光光譜儀(PL)；元素分析儀；氣相色譜儀（GC）；氣相-質譜聯用儀(GC-MS)；高性能電噴霧質譜儀；電感耦合等離子體質譜（ICP）；X射線熒光光譜分析儀(XRF)；紅外光譜儀（常規，吡啶）；紫外可見分光光度儀（Uv-vis）；激光粒度儀等檢測儀器。恒測堅持著“誠信、嚴謹、溝通、凝聚”的企業精神，以全心全意為客戶提供優質服務為宗旨，意在為用戶提供科學、高效、準確、可靠的檢測數據。恒測致力于成為一家提供優質產品和檢測服務支持的高層次企業，一個確保在科研和檢測產業方面不斷取得成功和值得信賴的合作伙伴。

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X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀產品信息

X射線熒光光譜儀

儀器照片
儀器名稱	X射線熒光光譜儀
儀器型號	Panalytical Axios
生產廠家	荷蘭
技術參數	分析范圍：O(8)-U(92)；含量范圍：PPM-99% SST-mAX無衰減X光管及固態高壓發生器功率：4KW，60KW，160mA DOPS直接光學定位測角儀精確率：0.0001^o 晶體：LiF200；PX-1；PE002，Ge111；LiF220；掃描方式：順序掃描探測器：流氣式：3000Kcps；閃爍式：1500 Kcps
應用范圍	用于粉末，塊狀，粉末壓片，熔片，金屬非金屬樣品，空氣濾膜等樣品元素成分的定性定量分析以及無標樣半定量分析，無損分析。
主要功能	X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來，電子的逐放會導致該電子可曾出現相應當電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子會躍遷到該低能量電子殼層來相應當電子空位。由于不同電子殼層之間存在能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性—特征波長(定性分析基礎)；依據譜線強度與元素含量的比例關系進行定量分析。
半定量分析
樣品要求	寄送樣品須干燥處理；固體：尺寸要求(mm) 長×寬：10×10 mm～200×200 mm 高：<100 mm；粉末：樣品均勻、粒度>200目，送樣質量大于1 g。