半導體芯片推拉力測試機是一種用于測試半導體芯片的機器。它可以通過施加推拉力來測試芯片的強度和耐久性，以確保芯片在使用過程中不會出現故障或損壞。這種測試機器在半導體芯片制造和質量控制過程中起著至關重要的作用。

半導體芯片是現代電子設備的核心組件之一。它們被廣泛應用于計算機、手機、平板電腦、智能家居等各種設備中。由于芯片的制造過程非常復雜，因此需要進行各種測試來確保芯片的質量和可靠性。其中，推拉力測試是一項非常重要的測試之一。

推拉力測試機通常由一個機械臂和一個夾具組成。機械臂可以控制夾具施加不同的推拉力，以模擬芯片在使用過程中可能遇到的各種力。測試時，芯片被夾在夾具中，然后機械臂開始施加推拉力。測試機器會記錄下施加的力和芯片的反應，以便分析芯片的強度和耐久性。

推拉力測試機的使用非常廣泛。它們被用于測試各種類型的芯片，包括微處理器、存儲器、傳感器等。在半導體芯片制造過程中，推拉力測試是一個非常重要的環節。通過測試，制造商可以確保芯片的質量和可靠性，從而提高產品的競爭力。

除了在制造過程中使用外，芯片推拉力測試機還被廣泛應用于產品質量控制和售后服務中。在產品質量控制中，制造商可以使用測試機器來檢查產品是否符合標準。在售后服務中，測試機器可以用于檢測故障芯片的強度和耐久性，以便更好地為客戶提供服務。

總之，半導體推拉力測試機是一種非常重要的測試設備。它們在半導體芯片制造和質量控制過程中起著至關重要的作用，可以確保芯片的質量和可靠性。隨著電子設備的不斷發展，推拉力測試機的重要性也將越來越大。

半導體芯片推拉力測試機

設備測試參數:

設備型號：LB-8600

外型尺寸：680*580*710(含左右搖桿)

設備重量：95KG

電源供應：110V/220V@4.0A  50/60HZ

壓縮空氣：4.5-6Bar

真空輸出：500mm Hg

控制電腦：聯想PC

軟件運行：Windows7/Windows10

顯微鏡：標配雙目連續變倍顯微鏡（選配三目顯微鏡）

傳感器更換方式：自動切換

平臺治具：360度旋轉，平臺可共用各種測試治具

XY軸有效行程：100*100mm

Z軸有效行程：80mm

XY軸分辯率：±1um   Z軸分辯率±1um

傳感器精度：傳感器精度±0.003％；綜合測試精度±0.25％