德國(guó)斯派克偏振X射線熒光光譜儀-SPECTRO XEPOS
德國(guó)斯派克分析儀器公司開(kāi)發(fā)出了一種極其成功的技術(shù),把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正
如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時(shí)偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種*的分析技術(shù)已成為
實(shí)驗(yàn)室測(cè)定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。
斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù),并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺(tái)式偏
振X射線熒光光譜儀。
SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件,可獲得的靈敏度和準(zhǔn)確性。采用偏振次級(jí)靶以
確保激發(fā),12位樣品自動(dòng)交換器,預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊,使
SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分
析,檢出下限低,靈敏度高、穩(wěn)定性好,可應(yīng)對(duì)歐洲WEEE、RoHS指令。