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Talos F200X 材料科學應用
速度的200 kV FEG STEM，實現多維度化學分析
FEI Talos F200X 掃描/透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能與行業的能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。Talos F200X 可在所有維度 (1D-4D) 下實現速、確的 EDS 分析，以及且支持快速導航的動態顯微鏡 HRTEM 成像。與此同時，FEI Talos F200X 還提供的穩定性和最長的正常運行時間。
的 STEM 成像分辨率和通量
FEI Talos F200X STEM 可以實現速、最準確且量化的多維納米材料表征。FEI Talos F200X 的創新功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學院、政府和工業研究環境中的高級研究與分析。
特色配件
NanoEx-i/v TEM 夾持器
FEI 的全新樣品加熱和偏置夾持器將擴展您的顯微鏡的功能。對于各種應用領域內需要原位 加熱納米材料的精密實驗（例如對納米量級退火行為、金屬相變、催化劑納米系統的結構改變與燒結現象、淬火、偏析/擴散現象等的研究），NanoEx-i/v 是理想的解決方案。
