高頻介電常數介質損耗試驗儀技術參數：

*1.信號源: DDS數字合成信號 10KHZ-70MHZ

*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數

3．Q值測量范圍：1～1023

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

*5．電感測量范圍：1nH～8.4H 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能

*6．電容直接測量范圍：1pF～2.5uF

*7．主電容調節范圍：30～540pF

8.準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信號源頻率覆蓋范圍10kHz～70MHz

10．合格指示預置功能范圍：5～1000

11．環境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（數顯）介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：數顯式微桿

平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm

*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：分別有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成。

介電常數

介質在外加電場時會產生感應電荷而削弱電場，原外加電場（真空中）與最終介質中電場比值即為介電常數(permittivity),又稱誘電率。如果有高介電常數的材料放在電場中，場的強度會在電介質內有可觀的下降。

損耗角正切

電力電容器是一種實際電容器、不是理想電容器，在外施交流電壓的作用下，除了會輸出一定容量的無功功率Q之外，在電容器的內部介質中、在電容器的極板（鋁箔）中、引線等導體中，以及在瓷瓶間的漏泄電流等都會產生一定的有功損耗功率P。通常把電容器的有功功率P與無功功率Q的比值稱做為該電容器的損耗角正切，并用下式表示： tanδ=P/Q 式中：tanδ—電容器的損耗角正切（%）； P—電容器的有功功率（W）； Q—電容器的無功功率。

介質損耗

介質損耗角的溫度、濕度特性介質損耗：絕緣材料在電場作用下，由于介質電導和介質極化的滯后效應，在其內部引起的能量損耗。也叫介質損失，簡稱介損。在交變電場作用下，電介質內流過的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數角Φ)的余角δ稱為介質損耗角

高頻介電常數介質損耗試驗儀——實驗環境條件如溫度、濕度對測定結果的影響。
溫度：溫度變化會引起高聚物的粘度變化，因而極化建立過程所需要的時間也起變化。溫度對取向極化（介電常數）有兩種相反的作用，一方面溫度升高，分子間相互作用減弱，粘度下降，使偶極轉動取向容易進行，介電常數增加；另一方面，溫度升高，分子熱運動加劇，對偶極轉動干擾增加，使極化減弱，介電系數下降。對于一般的高聚物來說，在溫度不太高時，前者占主導地位，因而溫度升高，介電常數增大，到一定范圍，后者超過前者，介電常數即開始隨溫度升高而減小。
濕度：濕度越大，水分越多，能明顯增加高聚物介電損耗的極性雜質。在低頻下，它主要以離子電導形式增加電導電流，引起介電損耗；在微波頻率范圍，水分子本身發生偶極松弛，出現損耗峰。對于極性高聚物，水有不同程度的增塑作用，尤其是聚酰胺類和聚丙烯酸酯類等，結果將使高聚物的介電損耗峰向較低溫度移動。水對熱固性塑料也有影響。