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激光器壽命測試設備

參考價 1000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱武漢普賽斯儀表有限公司
  • 品       牌普賽斯儀表
  • 型       號LDBIxx系列
  • 所  在  地武漢市
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2023/7/17 10:11:21
  • 訪問次數297
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      武漢普賽斯儀表有限公司是武漢普賽斯電子技術有限公司的全資子公司,一直專注于半導體的性能測試儀表的開發、生產銷售,致力于滿足半導體領域從材料、晶圓到器件測試用科學儀器的國產替代需求。

      基于普賽斯電子嶺先的光學與光電技術、微弱信號處理與抗干擾技術、高速數字信號處理、核心算法與系統集成等技術平臺優勢,公司自主研發了高精度臺式數字源表、脈沖式源表、窄脈沖電流源、集成插卡式源表、高精度超大電流源、高精度高壓電源、數據采集卡等國產化電性能測試儀表,以及mini LED測試系統、電流傳感器測試系統、功率器件靜態參數測試系統等。產品以其測試精度高、速度快、兼容性強、測試范圍寬、可靠性高、操作簡便以及快捷靈活的響應式服務等優勢,廣泛應用于新型半導體器件材料分析、半導體分立器件測試、集成電路測試、高校教學實訓平臺等應用;為客戶提供模塊化硬件、高效驅動程序和高效算法軟件組合,幫助用戶構建自定義解決方案,同時滿足行業對測試效率、測試精度、供應鏈安全以及規模化的挑戰。

普賽斯儀表自主研制的國產化數字源表,可作為電壓源和或電流源并同步測量電流和或電壓,支持四象限工作。作為國內嶺跑的半導體電性能測試儀表提供商,普賽斯儀表憑借長期的技術創新、精益的生產制造、嚴格的質量體系及國際化視野,推出的產品被國內通信巨圖和多家之名半導體企業認可和應用是為數不多進入國際半導體測試市場供應鏈體系的半導體電性能測試設備廠商。未來,公司將繼續以“為客戶提供醉優質的產品與Z貼心的服務”為宗旨,朝著圈球半導體電性能測試儀表的嶺跑者邁進。




數字源表,脈沖恒流源,脈沖恒壓源,高壓源,大功率激光器老化系統,功率器件靜態測試系統
針對千瓦級大功率半導體激光器,普賽斯推出國產化極優性價比大功率激光器老化測試系統解決方案.設備可擴展至4層結構,每層設計若干路,每路支持1-16只激光器芯片的串聯老化。激光器壽命測試設備認準普賽斯儀表
激光器壽命測試設備 產品信息

大功率半導體激光器老化測試系統解決方案

針對千瓦級大功率半導體激光器,普賽斯推出國產化極優性價比大功率激光器老化測試系統解決方案.設備可擴展至4層結構,每層設計若干路,每路支持1-16只激光器芯片的串聯老化。

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圖:LDI系列大功率激光器老化測試系統

系統包括高溫環境控制裝置、直流或脈沖驅動電源、收光裝置、光纖、光譜儀(選配)、循環水冷系統、定制夾具、溫度采集器及上位機等.其中,電源采用普賽斯全新開發、自主設計的HCPL系列大功率激光器測試電源。

60A CW模式,600A QCW模式

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值得一提的是,隨著國內半導體產業的不斷發展,以及行業解決“卡脖子”難題的決心,國產化儀器儀表的時代已然到來!武漢普賽斯儀表堅持自主創新,爭做國貨之光!激光器壽命測試設備認準普賽斯儀表認準普賽斯儀表

激光器老化系統.jpg


產品簡介

普賽斯多路大功率激光器老化系統是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發熱嚴重等問題而創新開發推出的一套通用性好、大功率、循環水冷的老化測試系統。產品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩定、抗干擾能力強,并具有防過沖、防反沖、抗浪涌的穩壓及恒流的雙重保護電路等功能,為大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的老化測試提供了一個完整的解決方案,

器件裝載使用抽屜式結構,設備可以靈活擴展最高至4層結構,每層設計若干路,每路支持1-16只激光器的串聯老化。 普賽斯多路大功率激光器老化系統采用全新開發、自主設計的大電流脈沖恒流源,可以兼容CW模式以及QCW模式,支持直流恒流、直流掃描、脈沖直流、脈沖掃描等四種模式。該系統包括高溫環境控制裝置、直流或脈沖驅動電源、收光裝置、光纖、光譜儀(選配)、循環水冷系統、定制夾具、溫度采集器及上位機等。實現上位機程序進行自動測試,自動采集半導體激光器驅動電流、激光器電壓、激光器光功率、環境溫度。實現多單元、高效率、自動監控并記錄上傳測試數據的一體化測試系統。              


設備特點

單抽屜最多支持16路8抽屜;

各通道互相獨立;

電流回讀,同步自動測量電壓、光功率等數據;

加熱膜加熱,溫控范圍:室溫~125℃;

電源抗浪涌設計;

收光裝置水冷;

絕對精度±1℃,不同DUT溫度均勻性±2℃;

老化數據自動記錄與數據導出;


產品應用

大功率LED的LIV測試及產線批量老化

大功率激光器的LIV測試及產線批量老化

大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的穩定性及可靠性測試


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