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場發射透射電子顯微鏡 HF-3300
日立的冷場發射電子源和300 kV加速電壓技術共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術，空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術開辟了高效，高精度樣品分析的新途徑。
特點
分辨率
0.1 nm(晶體點陣)
0.19 nm(點對點)
0.13 nm(信息極限)
放大倍數
200倍 至 1,500,000倍
加速電壓
300 kV, 200 kV*, 100 kV*
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關聯產品分類
- 聚焦離子束
- TEM/SEM樣品的前處理裝置
