半導體分立器件測試儀

半導體分立器件測試儀

一、產品特點:
測試晶種覆蓋面廣、測試精度高、電參數測試全、速度快、有良好的重復性和-一致性、工作穩定，具有保護系統和被測器件的能力，且具有圖示功能。測試儀由計算機操控，測試數據可存儲打印。除具有點測試功能外，還具有曲線掃描功能( 圖示儀功能)。系統軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統軟件穩定、硬件故障率低，在實際測試應用中各項技術指標均可達到器件手冊技術指標

二、測試參數:
1:二極管
VF、IR. BVR 隨機附件
2.穩壓 (齊納)二極管
VF、IR、BVZ
3.晶體管
Transistor (NPN型/PNP型)
VBE、ICB0、LCE0、 IEB0、 BVCE0、 BWCBO、 BVEBO、 hFE. VCESAT.
VBESAT、VBEON
4.可控硅整流器 (晶閘管)
IGT、VGT、IH、 IL。VTM
5. 場效應管
IGSSF、IGSSR、 IGSSR、 IGSS. VDSON、 RDSON、 VGSTH、IDSS、IDON、 gFS. BVGSS .
6。光電耦合器
VF。IR、CTR、ICE0、 BVCE0、 VCESAT
7.三端穩壓器
Vo、Sv. ID、IDV .及國標要求。