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半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV特性曲線掃描儀

參考價 1000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱武漢普賽斯儀表有限公司
  • 品       牌普賽斯儀表
  • 型       號SPA6100
  • 所  在  地武漢市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/1/15 9:55:18
  • 訪問次數(shù)697
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      武漢普賽斯儀表有限公司是武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司的全資子公司,一直專注于半導(dǎo)體的性能測試儀表的開發(fā)、生產(chǎn)銷售,致力于滿足半導(dǎo)體領(lǐng)域從材料、晶圓到器件測試用科學儀器的國產(chǎn)替代需求。

      基于普賽斯電子嶺先的光學與光電技術(shù)、微弱信號處理與抗干擾技術(shù)、高速數(shù)字信號處理、核心算法與系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺優(yōu)勢,公司自主研發(fā)了高精度臺式數(shù)字源表、脈沖式源表、窄脈沖電流源、集成插卡式源表、高精度超大電流源、高精度高壓電源、數(shù)據(jù)采集卡等國產(chǎn)化電性能測試儀表,以及mini LED測試系統(tǒng)、電流傳感器測試系統(tǒng)、功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)等。產(chǎn)品以其測試精度高、速度快、兼容性強、測試范圍寬、可靠性高、操作簡便以及快捷靈活的響應(yīng)式服務(wù)等優(yōu)勢,廣泛應(yīng)用于新型半導(dǎo)體器件材料分析、半導(dǎo)體分立器件測試、集成電路測試、高校教學實訓平臺等應(yīng)用;為客戶提供模塊化硬件、高效驅(qū)動程序和高效算法軟件組合,幫助用戶構(gòu)建自定義解決方案,同時滿足行業(yè)對測試效率、測試精度、供應(yīng)鏈安全以及規(guī)模化的挑戰(zhàn)。

普賽斯儀表自主研制的國產(chǎn)化數(shù)字源表,可作為電壓源和或電流源并同步測量電流和或電壓,支持四象限工作。作為國內(nèi)嶺跑的半導(dǎo)體電性能測試儀表提供商,普賽斯儀表憑借長期的技術(shù)創(chuàng)新、精益的生產(chǎn)制造、嚴格的質(zhì)量體系及國際化視野,推出的產(chǎn)品被國內(nèi)通信巨圖和多家之名半導(dǎo)體企業(yè)認可和應(yīng)用是為數(shù)不多進入國際半導(dǎo)體測試市場供應(yīng)鏈體系的半導(dǎo)體電性能測試設(shè)備廠商。未來,公司將繼續(xù)以“為客戶提供醉優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與Z貼心的服務(wù)”為宗旨,朝著圈球半導(dǎo)體電性能測試儀表的嶺跑者邁進。




數(shù)字源表,脈沖恒流源,脈沖恒壓源,高壓源,大功率激光器老化系統(tǒng),功率器件靜態(tài)測試系統(tǒng)
上市時間:
創(chuàng)  新 點:
2024-04-30
30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力;

測量精度高,全量程下可達0.03%精度;

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線;

提供靈活的夾具定制方案,兼容性強;

免費提供上位機軟件及SCPI指令集;

SPA-6100型半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV特性曲線掃描儀可以幫助用戶根據(jù)測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測量
半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV特性曲線掃描儀 產(chǎn)品信息

半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV特性曲線掃描儀概述:

SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學特性測試系統(tǒng),具有高精度、寬測量范圍、快速靈活、兼容性強等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體芯片器件設(shè)計以及先進工藝的開發(fā),具有桌越的測量效率與可靠性。

基于模塊化的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計,SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助用戶根據(jù)測試需要,靈活選配測量單元進行升級。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測量。SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀搭載普賽斯自主開發(fā)的專用半導(dǎo)體參數(shù)測試軟件,支持交互式手動操作或結(jié)合探針臺的自動操作,能夠從測量設(shè)置、執(zhí)行、結(jié)果分析到數(shù)據(jù)管理的整個過程,實現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測試需求。

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產(chǎn)品特點:

30μV-1200V;1pA-100A寬量程測試能力;

測量精度高,全量程下可達0.03%精度;

內(nèi)置標準器件測試程序,直接調(diào)用測試簡便;

自動實時參數(shù)提取,數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù);

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線;

提供靈活的夾具定制方案,兼容性強;

免費提供上位機軟件及SCPI指令集;

典型應(yīng)用:

納米、柔性等材料特性分析;

二極管;

MOSFET、BJT、晶體管、IGBT;

第三代半導(dǎo)體材料/器件;

有機OFET器件;

LED、OLED、光電器件;

半導(dǎo)體電阻式等傳感器;

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管;

電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測量;

太陽能電池;

非易失性存儲設(shè)備;

失效分析;


系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格

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半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)CV+IV特性曲線掃描儀訂貨信息


硬件指標-IV測試

半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)表征,往往包括電特性參數(shù)測試。絕大多數(shù)半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)測試,都包括電流-電壓(I-V)測量。源測量單元(SMU),具有四象限,多量程,支持
四線測量等功能,可用于輸出與檢測高精度、微弱電信號,是半導(dǎo)體|-V特性測試的重要工具之-。SPA-6100配置有多種不同規(guī)格的SMU,如低壓直流SMU,低壓脈沖SMU,大電流SMU。用戶可根據(jù)測試需求靈活配置不同規(guī)格,以及不同數(shù)量的搭配,實現(xiàn)測試測試效率與開支的平衡。


靈活可定制化的夾具方案

針對市面上不同封裝類型的半導(dǎo)體器件產(chǎn)品,普賽斯提供整套夾具解決方案。夾具具有低阻抗、安裝簡單、種類豐富等特點,可
用于二極管、三極管、場效應(yīng)晶體管、IGBT、SiC  MOS、GaN等單管,模組類產(chǎn)品的測試;也可與探針臺連接,實現(xiàn)晶圓級芯片
測試。

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探針臺連接示意圖

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