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蔡司掃描電鏡Sigma300電子掃描顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京一測精密儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/6/14 11:29:08
  • 訪問次數215
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蔡司是專業的三坐標測量機生產商,是三坐標測量技術的和奠基者,致力于為工業制造領域及測量實驗室的多維測量需要提供專業的測量解決方案。產品包含了通用的橋式測量機、懸臂式測量機、在線測量機,以及測量前沿技術的多功能工業CT測量機、復合式測量中心和納米級測量機。蔡司不僅在測量技術的科研上取得了世界矚目的成就,其所有的主要部件,如控制柜、軟件、傳感器、探針等均為蔡司獨立研發生產,確保了產品高品質和高性能的傳承。蔡司工業測量解決方案在擁有三個生產基地,分別位于德國總部的奧伯科亨,美國明尼阿波利斯和中國上海,以及32個銷售服務中心服務于世界各地。其中中國上海所生產的產品主要供應東南亞市場。蔡司以不斷追 求技術創新的企業精神以及嚴謹、踏實的企業作風使得其成為世界專業制造企業保證產品質量的可靠供應商,在中市場占有重要地位,成為三坐標技術發展的風向標。目前擁有三分之一的。北京,天津,河北,山東,河南,蔡司經銷商--北京一測精密儀器有限公司產品包括:蔡司三坐標,三坐標測量機,蔡司工業CT,工業CT,三維掃描儀,3D掃描儀,蔡司金相顯微鏡,蔡司顯微鏡,蔡司掃描電鏡,蔡司SPECTRUM,蔡司CONTURA,蔡司DURAMAX,蔡司PRISMO,蔡司MICURA等。蔡司工業測量解決方案核心產品:橋式三坐標測量機、在線式測量機、光學測量系統、三維掃描儀、大型龍門式高精度三坐標測量機、懸臂式三坐標測量機、計量型工業CT、顯微鏡、掃描電鏡、三坐標配件、三坐標維護保養。
探針抄數機
蔡司掃描電鏡Sigma300電子掃描顯微鏡用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡,靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能,將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合,利用成熟的Gemini電子光學元件
蔡司掃描電鏡Sigma300電子掃描顯微鏡 產品信息

蔡司掃描電鏡Sigma300電子掃描顯微鏡用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡,靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能,將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。

蔡司掃描電鏡Sigma300性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器,可快速方便地實現基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

Sigma300電子掃描顯微鏡產品特點:
用于清晰成像的靈活探測
利用探測術為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。
自動化加速工作流程
4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環境中,從快速成像和節省培訓首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。
首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。
接下來對樣品感興趣的區域進行優化并自動采集圖像。最后使用工作流程的步,將結果可視化。
高級分析型顯微鏡
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合:Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。
在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結果。

蔡司掃描電鏡Sigma300電子掃描顯微鏡


Sigma300電子掃描顯微鏡產品參數:
分辨率: 1.2nm @15 kV   2.2nm @1kV
放大倍數:10-1,000,000×
加速電壓:調整范圍:0.02-30 kV(無需減速模式實現)
探針電流: 4pA-20nA (40nA&100nA可選)
低真空范圍: 2-133Pa (Sigma 300VP可用)
樣品室: 365 mm(φ),275mm(h)
樣品臺:5軸優中心全自動   
X=125mm
Y=125 mm
Z=50 mm
T=-10o-90o
R=360o 連續
系統控制:基于Windows 7的SmartSEM操作系統,可選鼠標、鍵盤、控制面板控制。

蔡司掃描電鏡Sigma300產品應用領域:
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分   析和失效分析,材料實時微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶 粒取向測量。
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