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高利通生產的INF1000A涂層厚度測量儀利用光干涉原理實現涂層材料厚度非破壞性測試方法，即通過測量光的相位差，利用干涉原理確定兩個表面之間的距離，從而計算出涂層的厚度。
在測量過程中，一束寬光譜光從空氣中射入涂層表面，由于涂層的存在，光束被涂層的上下表面多次反射形成的多個光束疊加后，形成了干涉條紋。
具體來說，干涉條紋的相位差與被測物體表面涂層的厚度和折射率有關。當涂層厚度發生變化時，其不同表面的反射光的光程差發生了變化，從而導致干涉條紋相位的改變。根據干涉條紋相位的變化，可以計算出涂層厚度和折射率。
●穩定性、可靠性更強，分析更加準確
●軟件控制儀器，功能完善，操作便捷和維護方便
●優異的一致性
| 項目 | 指標 | 備注 |
| 測量范圍 | 1μm-100μm | |
| 分辨率 | 1μm | |
| 測量數據顯示位數 | 0.001μm | |
| 采樣速率 | 100HZ | |
| 移動臺行程 | 55X60mm | |
| 供電 | AC220V/50HZ | |
| 能耗 | 21.25W | |
| 重量 | ≈6Kg | |
| 工作溫度 | -10℃-50℃ | |
| 存儲溫度 | -20℃-70℃ | |
| 工作濕度 | ≤80%RH |
