熱輻射計(jì)是用于測量紅外輻射的檢測器。 它們對熱輻射非常敏感,主要用于10至5000µm(30THz至60GHz)的紅外光譜中。
探測器元件是一種非常敏感的熱敏電阻,為了降低熱本底,它被冷卻到LHe溫度。
撞擊在檢測器上的任何熱輻射都會(huì)引起溫度變化,這會(huì)導(dǎo)致電阻發(fā)生變化,該變化的電阻被放大并作為電壓差進(jìn)行測量。
由于輻射熱計(jì)測量溫度變化,因此必須對入射輻射進(jìn)行調(diào)制。
這使得輻射熱測量計(jì)能夠激發(fā)和放松,因此可以測量對應(yīng)于入射輻射能量的電阻變化。

應(yīng)用:
分子束光譜
強(qiáng)磁場研究
太赫茲研究
參數(shù)規(guī)格:

通用4.2K系統(tǒng):
我們歡迎,用途泛的輻射熱測量系統(tǒng)同時(shí)也涵蓋了廣泛的應(yīng)用范圍。
它由一個(gè)與2.5mm金剛石吸收器相連的4.2K輻射熱檢測器元件組成。
它在15至2000µm(20THz至150GHz)的范圍內(nèi)工作,調(diào)制頻率在200至400Hz的范圍內(nèi)。
標(biāo)準(zhǔn)1.6K系統(tǒng):
與我們的通用4.2K系統(tǒng)類似,其光譜響應(yīng)(15至2000µm)具有降低探測器溫度的附加優(yōu)勢。
這些好處包括較低的NEP,較高的靈敏度以及快速響應(yīng)時(shí)間的優(yōu)點(diǎn)。 該系統(tǒng)可以在大于1 KHz的調(diào)制頻率下工作。
HI-RES4.2K系統(tǒng):
該系統(tǒng)提供了較低的熱導(dǎo)率檢測器和更高的光譜分辨率。 該配置提供了響應(yīng)速度較慢的系統(tǒng),其調(diào)制頻率保持在200Hz以下。
該系統(tǒng)更靈敏,NEP值比通用4.2K系統(tǒng)低一個(gè)數(shù)量級。
遠(yuǎn)紅外1.6K系統(tǒng):
專門配置為檢測存在于紅外光譜較長波長中的能量較低的信號,并且在300µm至5mm的范圍內(nèi)表現(xiàn)良好。
與我們的其他輻射熱測量系統(tǒng)相比,它的導(dǎo)熱系數(shù)非常低。 這有助于提供更長的時(shí)間以捕獲低信號強(qiáng)度,并且在低于300Hz的調(diào)制頻率下運(yùn)行