晶閘管綜合測試儀 0-3000V
晶閘管綜合測試儀 0-3000V
該測試儀是符合國標GB4023-83《半導體器件整流二極管的測試方法》和GB-4024-83《半導體反向阻-斷三極晶閘管的測試方法》,能測試各種晶閘管(KP、KK、KA、KS)及晶閘管模塊的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM與各種整流二極管(ZP、ZK)的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等參數。采用單片機控制
主要技術指標:
1.峰值電壓測量范圍:0—3000V、0—4500V、0—6000V、0—9000V
2.峰值漏電流測量范圍:0—100mA、0—200mA
3.峰值漏電流保護設定范圍:0—99mA、0—198mA
4.機內示波器可觀看動態峰值電壓與峰值漏電流的變化伏安特性曲線波形
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀
晶閘管綜合測試儀 晶閘管綜合測試儀