葉面積指數測定儀通過檢測整個植株與占地面積的一個比值，檢測植物的生長情況，它不像單株植物葉片，通過檢測葉面積指數，我們可以預報他們的狀況，而葉面積指數測定儀又是如何使用的，以下可以來探討一下。

如何直接測量植物葉片的葉面積指數直接測量法是指收集植株葉片，直接測量其面積或測量葉片質量、形狀、長寬等參數，再轉換為面積。這是經典的、成熟的LAI測量方法，具有zui高的測量精度。其測量值通常被稱為真實葉面積指數，是間接測定的重要對比方法。該方法包括葉片采集和測量2個步驟。葉片采集方法有落葉箱法、代表植株法、區域采樣法等；測量方法有格點法、方格法、描形稱重法以及掃描和攝影等儀器測定法。由于直接測量對植物本身具有一定的破壞性，且必須人工采集葉片樣品，費時耗力，采樣不一定具有代表性，一般只用作科研，故實際測量和研究中常采用間接測量法。

間接測量法與直接測量法相比，間接測量法能夠更快、更大范圍地對LAI進行測量，并且不對植物產生傷害，因此得到迅速發展和廣泛應用。但是，采用這種方法得到的LAI往往偏低，不同類型的冠層低估范圍通常在25%～50%。雖然目前有許多方案能克服由于間接測量帶來的偏差，但并沒有根本地解決此類問題的產生。

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