LF 1近場探頭組包含4個屏蔽無源近場探頭,用于在研發(fā)階段測量電子模塊上長波、中波和短波區(qū)的射頻磁場。使用LF 1探頭組的探頭,可以逐步定位集成電路上的干擾放射源。首先使用探頭LF-R 400從遠距離探測模塊的干擾發(fā)射情況,接下來再用更高分辨率的探頭LF-B 3、 LF-U 5和LF-U 2.5對干擾源進行更精確的定位。采用這些探頭可以測量單個引腳、較大元件和結(jié)構(gòu)件。 這些近場探頭小巧輕便,并采用外皮電流衰減和電屏蔽設(shè)計。 這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。這些近場探頭的內(nèi)部沒有50Ω的終端阻抗。
修改測試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測試方法,只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。
修改診斷量測設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺頻譜分析儀即可。
所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個是磁場分量、一個是電場分量。這兩個分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場探棒(Near Field Probe)進行近場量測。所以,可用電場探棒和磁場探棒分別量測電場源和磁場源??筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強度,從而找出輻射大的零件或電路。