日本分光TOF載流子遷移率測試儀

描述 
TOF載流子遷移率測試儀CMM-250是測量薄膜電子和空穴的遷移率的有效評價系統，主要用于EL元件和太陽能電池等測試。

我們有防噪聲系統和*的信號處理，明顯降低了噪聲，響應速度快，如納米二階和高靈敏度已經達到為了測量電子和空穴的遷移率。可更換不同的模具（作為一個選項）模具的激光使系統振蕩的波長范圍從分子與脈沖寬度縮短600P秒熒光.

我們的除了TOF法測測量，也可選FET方法測量。

特點

1、在納米秒的時間分辨率?以10-7-10-1cm2 / V·秒速度移動

  （這可能改變取決于樣品的厚度）。

2、有簡單操作和探針樣品室

3、新設計的光學系統和數據處理，能夠獲得高信噪比的資料

規格

光源：氮激發光模激光器

氮激光脈沖寬度：600psec

氮激光輸出：250KW＠10Hz

輸出波長：337.1nm

模具的激光脈沖寬度：400psec(在480nm)

分辨率：測量時間小于10納秒

測量流動范圍：10-7 ~ 10-1cm2 / V.秒

(流動性不能在這個范圍內測量)

偏置電壓：0～±500V

負載電阻：50Ω～100KΩ 5steps

360～720nm（模具可選）

軸的時間分辨率：8位（平均11位）

同步：光電二極管激勵光監測系統

個人電腦

激光控制：激光開/關

數據采集：次把握~ 256槍

數據分析：數據顯示并保存

Y和X軸對數轉換

遷移時間和遷移率的計算