X射線無損測厚儀韓國XRF-2020

XRF-2020鍍層測厚儀

產地：韓國

品牌：Micro Pioneer 

型號：

XRF-2020H :測量樣品高12cm

XRF-2020L:測量樣品高3cm

XRF-2020PCB測量樣品高3cm

 H型，L型，長寬為55cm，PCB型開放式設計

三款機型均為全自動臺面，自動雷射對焦。

應用：電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度

可測試單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再鍍銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳再鍍金等?

合金鍍層：鐵上鍍鋅鎳,銅上鍍鎳磷等

電鍍鍍層測厚儀韓國先鋒XRF-2020測試范圍   

金：0.03-6um

鈀：0.03-6um

鎳：0.5-30um

錫：0.3-50um

銀：0.1-50um

鉻：0.5-30um

鋅：0.5-30um

鋅鎳合金：0.5-30um

電鍍鍍層膜厚儀韓國先鋒XRF-2020精度

首層：±5%以內

第二層：±8%以內

第三層：±15%以內

韓國微先鋒MicopioneerXRF-2020測厚儀

L型XRF-2020先鋒測厚儀:測量樣品高3cm內,

H型XRF-2020鍍層測厚儀型容納樣品10cm,長寬均為55cm

可測各種電鍍鍍層,鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅,鍍鋅鎳各金等。

可測試單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限底材。

XRF-2020測厚儀原理:

X射線或粒子射線經物質照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析

X射線無損測厚儀韓國XRF-2020