測厚儀標準片校正塊X-RAY膜厚儀標準膜片

韓國MicropioneerXRF-2020鍍層測厚儀標準片

通用各種品牌鍍層測厚儀

標準片或校正片銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀各種厚度及規(guī)格均可訂制，校準片附帶證書、適合各種X射線鍍層測厚儀

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片

專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）

在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。

也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，

來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品

以得到鍍層厚度或組成比率。

對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 

標準片或校正片銅，鎳，鉻，鋅，金，銀，錫，鋅鎳，鈀各種厚度及規(guī)格均可訂制，校準片均附帶證書

韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2020測厚儀

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等

合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等

MicropioneerXRF-2020電鍍測厚儀

標準片校正塊X-RAY膜厚儀標準膜片