韓國先鋒 XRF-2000
X射線鍍層測厚儀
電鍍膜厚儀
產品介紹
X 熒光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分，可用于材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。
XRF-2000 系列分為以下三種：
1. H型: 密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。
2. L型: 密閉式樣品室，方便測量 樣品較小，高度約30mm以下。
3. PCB型: 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下
應用 :
檢測電子電鍍,PCB板,五金電鍍層厚度
測量范圍根據不同鍍層0.04-35um
測量鍍金、鍍銀,鍍銅,鍍鎳,鍍鉻,鍍鋅,鍍錫,鍍鈀等,其可偵測元素的范圍： Ti(22)~U(92 )。
特色 :
非破壞，非接觸式檢測分析，快速精確。
可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告 。
全系列*設計樣品與光徑自動對焦系統。
標準配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇，可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。
移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差 。
*2D與3D或任意位置表面量測分析。
雷射對焦，配合CCD攝取影像使用point and shot功能。
標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式，亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。
光學20倍影像放大功能，更能精確對位。
單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。
優于美制儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的*優勢。
韓國Micro Pioneer還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀
是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能，
其物點為：高分辨率，固態探測器;可分析超薄樣品
分析有害物質，元素分析分之ppm - 100％,符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優化的應用;
可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；
電鍍溶液分析；
定性分析超過30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規則形狀；
貴金屬元素含量和分析（金，銀，鉑，和珠寶）；
自動過濾器，多準直儀(五個準直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺；
性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm,重量：75Kg (net)
可測量樣器大小：W550mm D550mm H30mm
X射線鍍層測厚儀供應
智能制造網