韓國XRF2000X射線測厚儀,X射線無損測量儀

X射線金屬鍍層測厚儀

儀器功能

全自動臺面

自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度不超過4cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測試范圍：0.04－35um

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間：10－30秒
鍍錫膜厚X射線無損測量儀,X射線無損測量儀

精度控制：

表層：±5%以內,第二層：±8%以內,第三層：±12%以內

韓國先鋒X光鍍層測厚儀/電鍍膜厚測試儀

韓國先鋒X光鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進行分析，不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機器，XRF2000為您大大節省成本。只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果
甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統，十字線自動調整。超大/開放式的樣品臺，
可測量較大的產品。可測量各類金屬層、合金層厚度等。
 

可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92
準直器：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
電腦系統：液晶顯示器，彩色打印機
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統計功能

X射線測厚儀韓國XRF2000

檢測電子電鍍鍍層厚度

測量樣品高度10cm內

X射線測厚儀韓國XRF2000