一、儀器的用途:
XP400C透射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校的專業實驗儀器。
偏光顯微鏡系統是將精銳的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在計算機顯示器上很方便地觀察偏光圖像,從而對偏光圖譜進行分析等對圖片進行輸出、打印。
二、儀器特點:
透射偏光顯微鏡 XP400C ,隨著光學技術的不斷進步,作為光學儀器的偏光顯微鏡,其應用范圍也越來越廣闊,許多行業,如化工的化學纖維,半導體工業以及藥品檢驗等等,也廣泛地使用偏光顯微鏡。 XP400C 透射偏光顯微鏡就是非常適用的產品,可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,配置有一級紅 λ 片、 λ/4 試片、石英楔子和移動尺等附件,是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品。本儀器的具有可擴展性,可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

三、技術參數 | ||||||||||||||||||
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四、系統組成 |
1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、采集卡 5、計算機(選配) |
五、選購件: 1、150萬像素成像器 2、偏光顯微鏡分析軟件 3、測微尺0.01mm 4、100X無應力消色差物鏡(帶浸油1瓶) |