NI 9217/NI 9217/9217采集卡/數據采集卡

NI 9217/NI 9217/9217采集卡/數據采集卡

9217/9217采集卡/數據采集卡

概述

National Instruments公司具有4通道、24位分辨率的NI 9217 RTD模擬輸入模塊可進行100 Ω RTD測量。 NI 9217可配置成兩種不同的采樣率模式。 借助高采樣率模式，采樣率可達400 S/s（每通道100 S/s）。 在高分辨率模式下，采樣率為5 S/s（每通道1.25 S/s）并具有50/60 Hz內置式去噪功能。

NI 9217可與3線和4線RTD測量兼容、自動探測與通道連接的RTD類型（3線或者4線）并可自動把每條通道配置成恰當的模式。 該模塊可提供每通道1 mA的電流激勵，其整個操作溫度范圍內的精度誤差小于1 °C。 NI 9217包含可溯源至NIST的校準，并具有通道-地面接地雙重隔離屏障，實現了安全性、抗擾性和高共模電壓范圍。

NI*使用用于NI 9217的NI 9939防變形連接器附件。

如需通道間RTD測量，請查看NI 9219通用模塊。

規格說明

• 可溯源至NIST的校準證書適合精確測量
• 采樣率高達400 S/s
• 24位分辨率；50/60 Hz去噪
• 4個100 Ω RTD模擬輸入
• 3線和4線RTD；內置激勵和自動探測