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薄膜厚度測量

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膜厚分布自動測量系統F50
Filmetrics F50系列的產品可以以每秒鐘測繪兩個點的速度測繪薄膜厚度。電動的R-Theta平臺可以接受標準或定制的夾具，以便用于直徑大于300mm 的...
型號： F50 所在地：國外參考價：面議更新時間：2022/3/10 18:05:12 對比

薄膜測厚儀薄膜測量儀薄膜厚度測量儀
2D厚度顯微測量系統F42
F42 2D厚度顯微測量系統可以進行顯微區域的高分辨率厚度測量，能夠繪制超過一百萬點的厚度測繪圖，每一點的測量面積Z小為3微米。利用集成的CCD攝影機，實時視頻...
型號： F42 所在地：國外參考價：面議更新時間：2022/3/10 18:05:12 對比

膜厚測量儀薄膜厚度測量儀薄膜測厚儀
小光點膜厚測量儀 F40
F40產品系列可以用于測量點尺寸小到2.5微米的用途。對大多數顯微鏡而言，F40 簡單地固定于C型安裝架轉接器上，這是攝像機安裝的行業標準。 F40完整地配備了...
型號： F40 所在地：國外參考價：面議更新時間：2022/3/10 18:05:12 對比

薄膜厚度測量儀膜厚測量儀
薄膜在線多點測量系統F37
用F37實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數（n和k值）和半導體以及電介質層的均勻性。樣品層：可以測量平滑和半透明的，或者輕度吸收的薄膜。這實際上包括那些...
型號： F37 所在地：國外參考價：面議更新時間：2022/3/10 18:05:12 對比

薄膜厚度測量儀膜厚測量儀薄膜測量儀
薄膜沉積監測系統F30
監控薄膜沉積Z強有力的工具。用F30光譜反射率系統可以實時測量沉積率、沉積層厚度、光學常數（n和k值）和半導體以及電介質層的均勻性。
型號： F30 所在地：國外參考價：面議更新時間：2022/3/10 18:05:12 對比

膜厚測量儀薄膜測厚儀
增透膜/硬膜測量儀F10-AR
易于使用，而且可以經濟有效地分析防反光涂層和鏡頭上的硬涂層F10-AR是為了簡便、經濟有效地測試防反光涂層（增透膜）而設計的*臺儀器。在用戶定義的任何波長范圍內...
型號： F10-AR 所在地：國外參考價：面議更新時間：2022/3/10 18:05:12 對比

薄膜厚度測量儀膜厚測量儀薄膜測厚儀
派瑞林涂層測厚儀F10-PA
F10-PA是一款專業的派瑞林涂層(Parylene)測量儀，可以對透明或不透明基底上的派瑞林涂層厚度進行測量，材料數據庫中有parylene C，N和HT可供...
型號： F10-PA 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2022/3/10 18:05:12 對比

派瑞林薄膜測量儀膜厚測量儀

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