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可評估薄膜導電性能的高溫四探針測試儀/新能源方案采用直排四探針法設計原理測量。主要用于評估半導體薄膜和薄片的導電性能，重復性與穩定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜...
高溫四探針測試儀，可評估薄膜導電性能的高溫四探針測試儀采用直排四探針法設計原理測量。主要用于評估半導體薄膜和薄片的導電性能。重復性與穩定性好，采用雙屏蔽高頻測試...
華測高的精度儀器——高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一...
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