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半導體封裝材料高低溫探針臺，可用于12英寸以內樣品測試采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜
高低溫真空探針臺/兼容I-V/C-V/R-F測試，溫度范圍77K-675K(液氮)；可應用于真空及常規環境；chao高溫度分辨率；特殊客制低溫系統；具有穩定性
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