本試驗(yàn)設(shè)備禁止：

   易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

   腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

   生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

   強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

3.容積、尺寸和重量

3.1.標(biāo)稱(chēng)內(nèi)容積

3.2.內(nèi)箱尺寸

3.3.外型尺寸

3.4.重量

80L

W 400×H 500×D 400mm

W 700×H 1640×D 1150mm

4.性能

4.1.測(cè)試環(huán)境條件

4.2.測(cè)試方法

環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下

GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品溫度試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)

4.3.溫度范圍

-40℃→+150℃

4.4.溫度波動(dòng)度

±0.5℃

4.5.溫度偏差

±2.0℃

4.6.濕度范圍

20%～98%R.H

4.7.濕度波動(dòng)度

±2.5%R.H.

4.8.濕度均勻度

±3.0%RH（濕度＞ 75%RH）

±5.0%RH（濕度 ≤75%RH）

4.9.升溫時(shí)間

-40℃→+150℃    65min

4.10.降溫時(shí)間

+20℃→-40℃    60min

4.11.負(fù)載情況

空載

4.12.溫濕度控制范圍圖

4.13.滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GJB 150.3-1986   高溫試驗(yàn)

GJB 150.4-1986   低溫試驗(yàn)

IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷

IEC68-2-2 試驗(yàn)B：干熱