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詳細(xì)介紹
Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀
全自動(dòng)透光率/反射率分析儀
型號(hào)：Planum-3000
用途：用于各類平面光學(xué)元件的反射、透射光譜快速測(cè)量。可進(jìn)行多角度相對(duì)/
反射率、透過率測(cè)量，偏振光測(cè)量，膜性測(cè)量。
Planum-3000平面光學(xué)元件光譜分析儀-適宜測(cè)量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學(xué)性能。
操作軟件界面
平面光學(xué)元件光譜分析儀的技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) Planum-3000（Ⅰ型） Planum-3000（Ⅲ型） 探測(cè)器 Sony線形CCD 陣列 Hamamatsu背照式2D-CCD 檢測(cè)范圍 380-1000nm 360-1100nm 波長(zhǎng)分辨率 1nm 1nm 信噪比（全信號(hào)） 250:1 1000:1 相對(duì)檢測(cè)誤差 ﹤1%（400-800nm） ﹤0.2%（400-800nm） 重復(fù)定位精度 ﹤0.005° 透射測(cè)量角度 0-80°（小樣品0-50°） 反射測(cè)量角度 10-80°（可擴(kuò)展到5°） 樣品尺寸 ﹥Φ5mm 單次測(cè)量時(shí)間 <1ms S/P光測(cè)量 支持 其他 可自定義打印報(bào)告格式，開放式光學(xué)材料數(shù)據(jù)庫(kù)
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