鎢燈絲掃描電子顯微鏡革命性的Beamsleeve的設計，確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像，同時還可以進行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標準的高效率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換和無污染(免維護)成像分析。
產品應用:
掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測量。

產品特點：能在可變壓力下操作
*X射線和EBSD分析
可移動大平臺
快抽真空
未來的保證，可升級在高壓和水蒸氣下成像和分析
高亮度LaB6資源選擇
光線套選擇

 鎢燈絲掃描電子顯微鏡技術參數：
分辨率：3.0nm@ 30KV(SE and W)  4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
加速電壓：0.2—30KV
放大倍數：5—1000000x
探針電流：0.5PA-5μA
X-射線分析工作距離：8.5mm     35度接收角
壓力范圍：10—400Pa (LS15:環掃模式10-3000Pa)
工作室：365mm(φ)×275mm(h)
5軸優中心自動樣品臺：X=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=0-90°R=360°
大試樣高度：145mm，大試樣直徑：250mm
系統控制：基于Windows XP 的SmartSEM操作系統