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新加坡ACCULEX顯微鏡設備IMH
赫爾納供應新加坡ACCULEX顯微鏡設備IMH,德國總部直接采購,近30年進口工業品經驗,原裝產品,支持選型,為您提供一對一的解決方案:貨期穩定,報價,價格優,在中國設有8大辦事處提供相關售后服務。
公司簡介
ACCULEX Solutions Pte Ltd成立于1999年,總部位于新加坡,專注于工業檢測與精密測量設備的研發與生產。公司在新加坡及馬來西亞馬六甲設有研發中心,致力于為半導體、電子制造及精密加工領域提供高效測量解決方案,并通過ISO 9001:2015質量管理體系認證。
產品類型
ACCULEX主要產品涵蓋以下類別:
1、光學檢測與計量設備
2、自動測量與輪廓系統
3、自動化集成設備
4、晶圓傳輸與檢測設備
5、顯微鏡及光學配件
主要型號
1、IMH Integrated Measuring Microscope
2、WLO x00 Automatic Wafer Lifter/Inspection Machine
3、PLU x00 Programmable Wafer Inspection Station
4、MCL x50 Wafer Transfer Machine
5、DZ2IRV-IRT Infrared Zoom Microscpe
產品介紹
一、IMH Integrated Measuring Microscope
1、功能:非接觸式高精度深度測量,集成于生產線使用。
2、技術參數:
3、測量精度:±0.5μm
4、放大倍率:50X~200X(可選配置)
5、光源:LED冷光源
6、工作原理:基于光學分割法,通過分劃板對準實現高度、深度及表面形貌測量,支持實時觀測。
二、WLO x00 Automatic Wafer Lifter
1、功能:晶圓自動搬運與表面缺陷檢測。
2、技術參數:
3、兼容晶圓尺寸:6英寸至12英寸
4、定位精度:±10μm
5、工作溫度:10°C~40°C
優勢特點
1、高精度測量:采用光學分割技術,滿足微米級檢測需求。
2、緊湊設計:模塊化結構便于集成至生產線設備。
3、多場景兼容:支持半導體、電子元件及精密加工領域應用。
4、操作簡化:直觀界面降低操作門檻,提升檢測效率。
5、穩定性強:工業級部件設計,適應長時間連續作業。
主要應用
1、半導體制造:晶圓厚度測量、表面缺陷檢測。
2、精密加工:微型零件臺階高度、孔徑尺寸檢測。
3、電子元件檢測:PCB焊點高度、封裝平整度分析。
4、科研實驗:材料表面形貌觀測與數據采集。
5、光學器件生產:透鏡曲率、鍍膜層厚度測量。
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