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薄膜測厚儀 型號:SL1-CH-1-ST | 北京中西化玻公司 |
CH-1-ST型薄膜測厚儀: 本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。 本測厚儀執行GB-T6672-2001標準。 技術參數: ◎量限:0-1mm ◎分度值:0.001mm ◎上測頭曲率半徑:15-50mm ◎測頭對試樣施加負荷:0.1-0.5N ◎測量精度: 100vm以內 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm ◎執行標準:GB6672-86 ◎本測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片). | 產品圖片 |
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