騰達試驗儀器廠：

　　一、概述：

　　采用落砂法評價被測樣品表面的耐損磨性能，適用于A1類，A2類突起路標。A3類可參照使用。

　　二、測試裝置構(gòu)成：

　　◆測試裝置由垂直導(dǎo)砂管，校正漏斗，過濾網(wǎng)，樣品架和砂子收集器組成。導(dǎo)砂管：可采用內(nèi)徑不小于150MM內(nèi)壁光滑的實壁塑料管組成，長度為2850MM,導(dǎo)砂管的不垂直度不大于0.2°。

　　◆校正漏斗：校正漏斗的上口尺寸為120MM×40MM,高度100MM,四面坡角45°。上口四邊應(yīng)平直，尖銳，保證落在口邊上的砂子落入斗內(nèi)時不改變方向。該漏斗的作用是保證直接落入口內(nèi)的沙子不偏離地，盡可能垂直地沖擊突起路標，而落到口外的沙子被偏離到斗外，不能沖擊突起路標。校正漏斗應(yīng)能上下，左右，前后移動，方便調(diào)整通過漏斗的砂量和均勻性。

　　◆過濾網(wǎng)：過濾網(wǎng)位于導(dǎo)砂管的上部，網(wǎng)孔尺寸為大于850UM的標準網(wǎng)。該過網(wǎng)的作用一是確立落砂的起始點，二是限制落砂的流速。要求落砂離網(wǎng)的距離不應(yīng)大于30MM。

　　◆樣品架：用于將被測樣品夾持穩(wěn)固，使樣品的基底面保持垂直，方便地將樣品與導(dǎo)砂管，校正漏斗對中，能自由調(diào)整被測樣品的高度使其上邊沿與漏斗上口保持不大于150MM，并能調(diào)整水平方向使樣品逆反射面底邊前沿與漏斗長邊方向平行。樣品架不應(yīng)阻擋落砂的自由流動。

　　◆收集器：可用1只300MM×500MM的搪瓷托盤，或其他容器。為了防止落入校正漏斗的砂子濺出或外部的砂子濺入，可用與漏斗下口相同的軟布罩將漏斗下口空間封圍。

　　三、試驗步驟：

　　◆將設(shè)備和被測樣品安裝調(diào)整到位，并保證導(dǎo)砂管上部至被測樣品底面上邊沿的距離為3.00M±0.03M。

　　◆取足夠用的試驗用砂，以0.4KG/MIN―1.0KG/MIN的速度均勻落入導(dǎo)砂管上部的過濾網(wǎng)上，注意觀察落砂沖擊樣品的均勻性和部位，并經(jīng)常按照B.6的方法校準試驗裝置的均勻性。

　　◆收集通過校正漏斗的砂子并稱重，稱重的砂子包括撞擊到樣品及樣品架上濺射到外部的砂子，但不含沒有通過漏斗的部分，當發(fā)現(xiàn)收集的砂量不滿足2.5KG±0.050KG要求時，應(yīng)按照B.6的方法對試驗裝置進行校準。

　　◆取下被測樣品，用軟布清潔后，測量被沖擊逆反射面的發(fā)光強度系數(shù)。

　　◆將用過的試驗砂棄掉，試驗用砂每個試驗只用1次，不應(yīng)重復(fù)使用。

　　◆測試裝置校準

　　落砂應(yīng)均勻地通過校正漏斗，其均勻性通過在漏斗下突起路標的位置和高度上放置至少10個口徑約為10MM的小瓶來驗證。當足夠的沙子下落通過漏斗時，至少有1個小瓶收集到至少5G的砂子，收集最少的小瓶中沙子重量至少達到收集最多的小瓶中沙子重量的75％為測試裝置合格。在確定裝置的流動穩(wěn)定性之后，視需要通過調(diào)整漏斗的上下和總用砂量來校準其均勻性和通過漏斗的砂量。

　　◆測試裝置的修正

　　當被測突起路標底邊大于100MM時應(yīng)對整個裝置進行修正，假設(shè)被測突起路標底邊為（100+X）MM,則修正內(nèi)容如下：

　　校正漏斗的上口長邊為（120+X）MM;

　　導(dǎo)砂管的內(nèi)徑應(yīng)至少（150+X）MM;

　　c)通過校正漏斗的試驗砂的質(zhì)量應(yīng)為(2.5+0.020 8X)KG,允差±2％;

　　d)通過漏斗落砂的流速應(yīng)保持在（0.4+X/300）KG/MIN―(1+X/120)KG/MIN

　　四、注意事項：

　　◆試驗環(huán)境

　　溫度23°C±2°C,相對濕度（50±25）％。

　　◆測試用砂

　　試驗用砂應(yīng)使用二氧化硅含量的天然石英砂。

　　這種石英砂的顆粒分布應(yīng)該滿足如下要求：在經(jīng)過10MIN的聯(lián)系搖篩之后，不超過總量的10％保留在20號篩（850UM）上，不超過總重的10％漏過30號篩（600UM）.

　　注：在ASTM D 4280-2004中使用位于美國中部St,Peters或Jordan的砂巖沈積砂。