一、實(shí)驗(yàn)預(yù)備

1.實(shí)驗(yàn)室據(jù)【實(shí)驗(yàn)委托單】抽取規(guī)則份額產(chǎn)品作爲(wèi)高低溫實(shí)驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)樣本。

2.室內(nèi)溫度：15～35℃，相對(duì)濕度：不大于85%R.H。

3.反省實(shí)驗(yàn)設(shè)備無(wú)缺狀況，確認(rèn)設(shè)備正常

4.確認(rèn)試件爲(wèi)非“易爆、可易燃或高腐蝕”物質(zhì)。

二、高低溫實(shí)驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)操作進(jìn)程

1.高溫實(shí)驗(yàn)

2.翻開總電源開關(guān)

3.將樣件擺放在實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)，產(chǎn)品相互之間不得觸摸;封鎖實(shí)驗(yàn)箱門。

4.翻開溫度操控儀，按規(guī)則的要求設(shè)定溫度，操作辦法如下：

( 按“設(shè)定”按鈕，設(shè)置需務(wù)虛驗(yàn)的溫度和斜率，假設(shè)需求濕度，則相反操作。)

5.按運(yùn)轉(zhuǎn)按鈕

6.做完高溫實(shí)驗(yàn)后，按下中止按鈕，則高低溫箱中止作業(yè)，待自然降溫0.5h～1h 后，取出樣件。

7.取出的樣件放置空氣中，自然冷卻1h～2h后，調(diào)查樣件外表改動(dòng)狀況，并記載在【高低溫實(shí)驗(yàn)報(bào)告】中。

8.在實(shí)驗(yàn)進(jìn)程中，如需調(diào)查樣件狀況時(shí)，翻開實(shí)驗(yàn)箱照明燈開關(guān)即可，但不能長(zhǎng)時(shí)辰按下

9.低溫實(shí)驗(yàn)(做完高溫實(shí)驗(yàn)后，必需自然降溫0.5h～1h 后，再做制冷實(shí)驗(yàn))。

10.翻開總電源開關(guān)。

11.將樣件擺放在實(shí)驗(yàn)箱內(nèi)，產(chǎn)品相互之間不得觸摸;封鎖實(shí)驗(yàn)箱門。

12.按溫度操控開關(guān)翻開溫度操控儀，按上述操作溫度操控儀辦法按規(guī)則的要求設(shè)定溫度。

13.按運(yùn)轉(zhuǎn)按鈕，低溫實(shí)驗(yàn)?zāi)┪病?/p>

14.完畢低溫運(yùn)轉(zhuǎn)后，按中止按鈕，待自然降溫0.5h～1h 后，取出樣件。

15.把取出的樣件放置空氣中1h～2h后，調(diào)查樣件外表的改動(dòng)狀況，依據(jù)實(shí)驗(yàn)要求填寫【高低溫實(shí)驗(yàn)報(bào)告】。

三、高低溫實(shí)驗(yàn)箱留意事項(xiàng)

1.本設(shè)備僅適合高溫+150℃，低溫-40℃范圍內(nèi)的產(chǎn)品實(shí)驗(yàn)。

2.制止易爆、易燃及高腐蝕物質(zhì)的實(shí)驗(yàn)。

3.本機(jī)作業(yè)于0℃以下時(shí)，應(yīng)避免翻開箱門，不然構(gòu)成箱內(nèi)蒸發(fā)器等部位發(fā)作結(jié)霜結(jié)冰，下降本機(jī)運(yùn)用功率。

4.實(shí)驗(yàn)中，除非一定必要切勿翻開箱蓋，不然可以會(huì)惹起人身?yè)p傷、體系誤舉措。

低溫發(fā)起實(shí)驗(yàn)

一、低溫發(fā)起實(shí)驗(yàn)

在低溫環(huán)境下，DC/DC模塊內(nèi)晶體管擴(kuò)展倍數(shù)會(huì)隨溫度改動(dòng)，溫度越低，晶體管的擴(kuò)展倍數(shù)越小。招致DC/DC模塊的輸出電壓下降。

在實(shí)際作業(yè)進(jìn)程中，多數(shù)產(chǎn)品均存在著在低溫下出現(xiàn)電源無(wú)法發(fā)起現(xiàn)象。檢驗(yàn)檢測(cè)因此我們需務(wù)虛踐測(cè)出低溫條件下，DC/DC電源模塊的低溫發(fā)起時(shí)辰，進(jìn)而來判別產(chǎn)品能否在低溫條件下顛簸運(yùn)轉(zhuǎn)。

二、實(shí)驗(yàn)進(jìn)程：

1 實(shí)驗(yàn)前保證被測(cè)樣品功用無(wú)缺。

2將樣件上的的DC/DC電源模塊引腳電壓點(diǎn)區(qū)分用導(dǎo)線引出。

3將樣件放置在實(shí)驗(yàn)箱，銜接好線束。各個(gè)產(chǎn)品之間不得觸摸，待實(shí)驗(yàn)箱溫度降至設(shè)定溫度-40℃后，在該條件下樣件放置2h。

4將被測(cè)樣品某一電壓點(diǎn)的引出線和示波器相連，示波器設(shè)置爲(wèi)上升沿觸發(fā)方式，檢驗(yàn)檢測(cè)采樣時(shí)辰設(shè)置爲(wèi)us級(jí)。翻開被測(cè)樣品電源，抓取該電壓點(diǎn)的發(fā)起波形，并將該波形保管。

5波形抓取完畢后，封鎖被測(cè)樣品電源。靜置10min,重復(fù)進(jìn)程3。(做完一次波形抓取實(shí)驗(yàn)，將被測(cè)樣品電源封鎖時(shí)辰爲(wèi)10min)

6 整個(gè)實(shí)驗(yàn)完畢后，依照高低溫實(shí)驗(yàn)箱操作進(jìn)程封鎖實(shí)驗(yàn)箱電源。

B11體系電壓點(diǎn)測(cè)試表格

低溫運(yùn)轉(zhuǎn)實(shí)驗(yàn)

一、低溫運(yùn)轉(zhuǎn)實(shí)驗(yàn)

該實(shí)驗(yàn)是爲(wèi)了模仿實(shí)際溫度較低時(shí)，產(chǎn)品會(huì)不會(huì)遭到影響。然后影響正常數(shù)據(jù)的搜集及操控。

二、實(shí)驗(yàn)進(jìn)程

1、實(shí)驗(yàn)前保證被測(cè)樣品功用無(wú)缺。

2、將樣件上的的DC/DC電源模塊引腳電壓點(diǎn)區(qū)分用導(dǎo)線引出。

3、將樣件放置在實(shí)驗(yàn)箱，銜接好線束，各個(gè)產(chǎn)品之間不得觸摸，接通電源，調(diào)查上位機(jī)數(shù)據(jù)，正常后經(jīng)過上位機(jī)軟件更改歷史數(shù)據(jù)保管時(shí)辰，檢驗(yàn)檢測(cè)更改爲(wèi)每分鐘保管記載一次。

4、待實(shí)驗(yàn)箱溫度降至設(shè)定溫度-40℃后，在該條件下樣件放置2h。

5、將被測(cè)樣品某一電壓點(diǎn)的引出線和示波器相連，抓取該電壓點(diǎn)的發(fā)起波形，并將該波形保管。

6、波形抓取完畢后，重復(fù)進(jìn)程5。

7、整個(gè)實(shí)驗(yàn)完畢后，依照高低溫實(shí)驗(yàn)箱操作進(jìn)程封鎖實(shí)驗(yàn)箱電源。

高溫運(yùn)轉(zhuǎn)實(shí)驗(yàn)

一、高溫運(yùn)轉(zhuǎn)實(shí)驗(yàn)

該實(shí)驗(yàn)是爲(wèi)了模仿實(shí)際溫度較高時(shí)，產(chǎn)品會(huì)不會(huì)遭到影響。檢驗(yàn)檢測(cè)然后影響正常數(shù)據(jù)的搜集及操控。

二、實(shí)驗(yàn)進(jìn)程

1、實(shí)驗(yàn)前保證被測(cè)樣品功用無(wú)缺。

2、將樣件上的的DC/DC電源模塊引腳電壓點(diǎn)區(qū)分用導(dǎo)線引出。

3、將樣件放置在實(shí)驗(yàn)箱，銜接好線束，各個(gè)產(chǎn)品之間不得觸摸，接通電源，調(diào)查上位機(jī)數(shù)據(jù)，正常后經(jīng)過上位機(jī)軟件更改歷史數(shù)據(jù)保管時(shí)辰，更改爲(wèi)每分鐘保管記載一次。

4、待實(shí)驗(yàn)箱溫度升至設(shè)定溫度80℃后，在該條件下樣件放置2h。

5、將被測(cè)樣品某一電壓點(diǎn)的引出線和示波器相連，抓取該電壓點(diǎn)的發(fā)起波形，并將該波形保管。

6、波形抓取完畢后，重復(fù)進(jìn)程5。

7、整個(gè)實(shí)驗(yàn)完畢后，依照高低溫實(shí)驗(yàn)箱操作進(jìn)程封鎖實(shí)驗(yàn)箱電源