EDX8000能量色散X熒光光譜儀
高精密定位測量系統(tǒng)，用于RoHS檢測和鍍層檢測。在鍍層檢測中，該款儀器可以驚奇地逐點測試被測對象，并給出完整的含量和鍍層的平面分析圖譜。
◆◆技術指標:
◆分析精度: 0.05%
◆分析含量范圍：1PPM-99.99%
◆測量元素：從硫至鈾等75種元素
◆測量對象：粉末、固體、液體
◆分析電鍍溶液中金屬離子濃度
◆可分析10層以上的鍍層
◆測試鍍層zui薄至0.005um
◆步進zui小距離：0.01mm
◆測量時間：60~300秒
◆工作溫度：15~30°C
◆相對濕度：< 70%
◆重量：30KG
◆工作電壓：AC 110/220V
◆分析精度: 0.05%
◆分析含量范圍：1PPM-99.99%
◆測量元素：從硫至鈾等75種元素
◆測量對象：粉末、固體、液體
◆分析電鍍溶液中金屬離子濃度
◆可分析10層以上的鍍層
◆測試鍍層zui薄至0.005um
◆步進zui小距離：0.01mm
◆測量時間：60~300秒
◆工作溫度：15~30°C
◆相對濕度：< 70%
◆重量：30KG
◆工作電壓：AC 110/220V
◆◆配置：
◆單樣品腔計
◆算機、噴墨打印機
◆硅針半導體探測器
◆放大電路
◆高低壓電源
◆X光管
◆雙激光定位系統(tǒng)
◆50至100倍物體放大
◆算機、噴墨打印機
◆硅針半導體探測器
◆放大電路
◆高低壓電源
◆X光管
◆雙激光定位系統(tǒng)
◆50至100倍物體放大
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