當前位置:篤摯儀器(上海)有限公司>>表面分析測量儀器>> X-Strata920牛津X-Strata920熒光鍍層測厚光譜儀
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X-Strata920
快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測量及材料分析,低成本、高效率!速,精確的分析:大面積正比計數探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強度大,斑點小,樣品激發佳)相結合,提供z佳靈敏度
牛津儀器-值得您信賴的品牌!
●從研發、生產、銷售到服務,牛津儀器公司在鍍層厚度測量和成份分析領域中擁有20多年豐富經驗,為客戶提供可靠性高、成本低且效率高的解決方案
●我們已經在世界各地銷告超過3000臺的臺式X射線熒光鍍層測厚儀
![]() | X射線熒光(XRF)方法 X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對被測樣品發射一-東一次X射線,樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次射線的特征能量和強度,X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。 X射線熒光分析的優點: X-Strata920符合: | ||
![]() | 電子行業 電子、電氣原件 |
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五金電鍍行業![]() 電鍍處理的成本z小化,產量z大化 ●快速簡單的分析 一同時進行單層或多層鍍層厚度 ●測量及成份分析 一*多可分析4層鍍層 一鍍液成份分析 | 金屬合金行業 金屬合金成份分析和牌號認定 |
X-Strata920高性能的X射線熒光光譜儀
●快速,精確的分析:大面積正比計數探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強度大,斑點小,樣品激發佳)相結合,提供z佳靈敏度
●簡單的元素區分:通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
●性能優化,可分析的元素范圍大
X-Strata920堅固耐用的設計: 簡單的校準步驟: X-Strata920預置800多種容易選擇的應用參數/方法: 鐳射聚焦: | ![]() |
X-Strata920三種配置選項
以滿足您的分析需求
加深樣品臺 ●高度每半英寸(12.7mm) 可調,架構式樣品艙可容 納*大高度6.3"(160mm) 的樣品 ![]() | 固定樣品臺 ●樣品臺位置固定 ●經濟、實用 ●平面樣品臺設計,適合高 度不超過1.3"(33mm)的樣 品分析 ![]() | 程控樣品臺 用于自動化測量 ●方便根據測試位置放置樣品, 并精準定位測量點 樣品臺尺寸: 22"(D) x 24"(w), 即560mm (深) x 610mm (寬) ●程控臺移動距離: 7"x7", 即178mmx 178mm ![]() |
*的系統安全性 ●為日常操作員設定簡單的、功能受限的 用戶界面 ●管理員級別可進入系統進行維護 ●系統使用由操作者登錄 ●自動鎖定功能防止未的操作 | ![]() | 結果輸出 ●結果可導出 至Excel表格或報告 ●生成自定義 ●用戶可自定義統計分析格式 ●包括統計分析數據 ●獲取樣品圖象到報告中 |
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