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詳細摘要： 用于精密材料研發的單晶和多晶片的壽命測量

詳細摘要： 臺式PID潛在誘導退化測試儀用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質量檢測。

詳細摘要： 靈活的OEM設備，用于多種不同樣品的在線壽命測量：從單晶硅到多晶硅錠，從生成態晶圓片到不同鍍層或金屬化晶圓的過程控制。標準軟件接口，易于連接到許多處理或自動化系...

詳細摘要： MDPpro 晶圓片晶錠壽命檢測儀用于常規質量控制、精密材料研發的單晶和多晶片及晶錠的壽命測量

詳細摘要： 微波探測的MDPpicts光感應電流瞬態圖譜檢測，非接觸且無損傷，用于溫度依賴的少數載流子壽命測量以及半導體的界面陷阱和體陷阱能級的電性能表征。

詳細摘要： MDPinline是一種用于快速定量測量載流子壽命并集成掃描功能的檢測儀。通過工廠安裝的傳送帶將晶圓片移至儀器，在不到一秒的時間內，就可以“動態"測量出晶圓圖。