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上海奧析科學儀器有限公司
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免費會員測鍍層X熒光光譜儀 規格：
1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.鍍層檢驗厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）
5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)
測鍍層X熒光光譜儀 應用領域：
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環保檢測
上海奧析科學儀器有限公司 - 主營產品： 光度計
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