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產(chǎn)品名稱：粗糙度輪廓儀-T8000SC

產(chǎn)品詳情：

使用高分辨率數(shù)字式探測(cè)系統(tǒng)同時(shí)記錄粗糙度參數(shù)和 輪廓特征值，并且在一個(gè)流程中進(jìn)行評(píng)價(jià)。因此，該測(cè) 量系統(tǒng)為測(cè)量室和加工現(xiàn)場(chǎng)的高要求測(cè)量任務(wù)提供了解決方案。 此系統(tǒng)性價(jià)比，應(yīng)用廣泛，性能堪與復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)室 測(cè)量系統(tǒng)媲美。

HOMMEL-ETAMIC surfscan 系統(tǒng)特征：

1. 通用測(cè)量站，既可用于測(cè)量室，也可用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的質(zhì)量檢驗(yàn)

2. 模塊化設(shè)計(jì)，可進(jìn)行量身定做的個(gè)性化測(cè)量站配置

3. 可交互操作的軟件，在一份個(gè)性化設(shè)計(jì)的測(cè)量報(bào)告內(nèi)組合評(píng)價(jià)粗糙度和輪廓特征值

4. 粗糙度和輪廓共用一個(gè)探測(cè)系統(tǒng)

5. 由于量程大，無需將探測(cè)系統(tǒng)和工件表面對(duì)齊

6. 測(cè)量斜面和曲面粗糙度時(shí)，6mm量程內(nèi)具有 6 nm 分辨率

7. 測(cè)頭臂配置磁性支架，更換快速且安全

8. 粗糙度和輪廓評(píng)價(jià)軟件具有廣泛的選項(xiàng)功能

9. 可配置其它探測(cè)系統(tǒng)拓展應(yīng)用范圍，如配置wavecontour™ digital / digiscan 探測(cè)系統(tǒng)放大輪廓量程，或配置粗糙度測(cè)頭用于特殊的粗糙度測(cè)量

HOMMEL-ETAMIC surfscan 技術(shù)亮點(diǎn):

1. 同時(shí)測(cè)量粗糙度和輪廓，節(jié)約時(shí)間

2. 重復(fù)精度高

3. 測(cè)量粗糙度時(shí)省卻了耗時(shí)的基準(zhǔn)面對(duì)齊步驟

4. RFID 技術(shù)保證了測(cè)頭臂的自動(dòng)識(shí)別和測(cè)量參數(shù)的正確設(shè)置