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FASTAC FLIM 熒光壽命成像系統(tǒng)

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更新時(shí)間：2022-08-03 11:21:37瀏覽次數(shù)：174次

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上海千欣儀器有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

自從1998年以來，作為單光子計(jì)數(shù)設(shè)備的技術(shù)，BeckerHickl GmbH提供各種用于激光掃描共聚焦顯微鏡的高級(jí)FLIM系統(tǒng)。熒光壽命成像顯微技術(shù)已在生命科學(xué)，臨床熒光壽命領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。成像，擴(kuò)散光學(xué)層析成像，熒光相關(guān)光譜等等。使用我們專有的多維時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)技術(shù)（TCSPC），我們的FLIM和TCSPC系統(tǒng)具有超高光子效率的特點(diǎn)。

詳細(xì)介紹

主要技術(shù)參數(shù)：

基于BH的多維TCSPC技術(shù)

適用于任何快速共聚焦或多光子掃描系統(tǒng)

采集時(shí)間降至100毫秒

超高時(shí)間分辨率

圖像大小從128 x 128像素到2048 x 2048像素

峰值計(jì)數(shù)率超過20 MHz

IRF寬度<25 ps

時(shí)間通道寬度降至405 fs

每像素最多4096個(gè)時(shí)間通道數(shù)

FLIM主要應(yīng)用實(shí)例：

單晶鹵化物鈣鈦礦進(jìn)行化學(xué)陰離子交換處理后，需對(duì)其結(jié)構(gòu)上的材料特性進(jìn)行檢測(cè)。此時(shí)需要獲得一個(gè)二維平面上完整的信息，以此判斷其性質(zhì)的改變結(jié)果，利用FLIM及高光譜設(shè)備，可以快速測(cè)到正方形顯示單元在中心、邊緣、頂點(diǎn)的熒光壽命衰減曲線和PL光譜曲線(比例尺，5μm）。

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