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CIX100清潔度檢測系統

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更新時間:2023-02-24 14:38:57瀏覽次數:773次

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產品簡介

奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統奧林巴斯CIX100檢測系統是為要求生產組件保持較高清潔度標準的制造商而研發的整體解決方案

詳細介紹

 

奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統

奧林巴斯CIX100檢測系統是為要求生產組件保持較高清潔度標準的制造商而研發的整體解決方案。依照企業和國際標準對技術清潔度檢測數據進行快速采集、處理和存檔。該系統方便直觀的軟件可引導用戶完成每一步流程,即使經驗不足的操作員也能夠快速方便地采集清潔度數據。

 


奧林巴斯CIX100檢測系統:讓您的技術清潔更簡便

組件、零部件與流體的清潔對于生產工藝十分重要。滿足對于常見微觀尺寸污染物和異物顆粒的計數、分析和分類的高標準要求對于包括開發、制造、批量生產和成品質量控制在內的所有流程均非常重要。由于顆粒污染物對于零部件的使用壽命存在直接影響,國際和國家指令對于確定重要機械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。當前標準要求提供諸如顆粒物數量、粒度分布和顆粒物特征等有關污染物性質的詳細信息。
奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統設計可滿足現代工業及國家和國際指令的清潔度要求。




零部件的技術清潔度對于制造業至關重要。

清潔度檢查的標準流程:
準備(步驟 1-3)和調查(步驟 4-6)。第1步:提取,第2步:過濾,第3步:稱重,第4步:檢測,第5步:復審,第6步:結果。


簡單可靠

硬件與軟件無縫集成的耐用型高生產率系統能夠產出可靠、精確的數據。

  • 輕松配置用于自動化成套解決方案
  • 源自于穩定測量系統的可重復結果
  • 的光學性能和可再現成像條件
  • 利用集成校準設備進行自動系統自檢
  • 實現所有硬件組件自動控制的全面系統集成

更高效的直觀指南

  • 方便的專用工作流能夠盡可能減少用戶操作并確保數據可靠性,而無關操作員的經驗水平。
  • 人性化工具讓修改檢測數據更加輕松。
  • 通過分步指導提高生產力并縮短檢測時間
  • 用戶權限管理功能可盡可能減少人為錯誤
  • 采用大尺寸按鈕設計,方便觸摸屏點擊
  • 合規一鍵式報告功能實現高效數據存檔
  • 所有數據均可自動保存,并可輕松導出和共享
  • 提供選配材料分析解決方案的高級顯微鏡模式

快速實時分析

創新一體式掃描解決方案檢測反光(金屬)和非反光顆粒物的速度是需要使用兩個獨立圖像的傳統方法的兩倍。對已計數和已分類顆粒物的即時反饋可幫助您快速做出決定。

  • 概覽圖像有助于評估濾膜覆蓋情況、顆粒物聚集情況或者最差的顆粒物
  • 對2.5 μm至42 mm范圍污染物顆粒進行自動實時處理和分類
  • 高產能:系統可在一次掃描中同時檢測反光和非反光顆粒物
  • 實時分析功能讓您能夠實時對結果做出反應
  • 根據選定行業標準定制符合要求的結果

高效的數據評估

使用功能強大且易用的支持企業和國際清潔度檢測標準的工具修改檢測數據。以盡可能節省時間的方式清晰展示所有相關檢測結果。

  • 圖像和數據布局清晰有序,提高數據審核效率
  • 多種可選視圖實現即時顆粒物識別
  • 顆粒物位置和縮略圖與實時圖像關聯
  • 方便對檢測數據進行重新分類、審核修改以及重新計算
  • 實時顯示整體清潔度代碼、顆粒物和分類表
  • 通過趨勢分析識別隨時間推移的潛在測量偏差
  • 在一個視圖中顯示完整檢測數據

合規報告創建

一鍵報告功能可滿足國際標準規定的要求及方法。自定義報表(如,包括顆粒物形態)輕松滿足公司標準。

  • 使用預定義合規模板生成專業報告
  • 輕松調整模板和報告以滿足行業和公司法規
  • 支持包括MS Word和PDF等多種輸出格式,
  • 為便于交流使用,對報告文件大小進行了優化。
  • 長期數據存儲,因此可在數年后用于判斷決策合理性

 

 

 

 

清潔度檢測硬件


顯微鏡

OLYMPUS CIX100

電動對焦

  •  3軸操縱桿控制的同軸自動細調焦
  •  對焦行程 25毫米
  •  微調行程 100微米/周
  •  載物臺托架*大高度:40毫米
  •  對焦速度 200微米/秒
  •  可啟用軟件自動對焦
  •  可定制多點聚焦圖

照明器

  • 內置LED照明
  • 可同時實現反光和非反光顆粒物探測的照明機制
  • 光強度由工廠預設

成像設備

  • 彩色CMOS USB 3.0相機

樣品高度

  • ?樣品受限于安裝在所附濾膜托架上的過濾膜(直徑47毫米)

物鏡轉換器

電動型

電動物鏡轉換器

  • 6孔電動物鏡轉換器,已經安裝3個UIS2物鏡
  • PLAPON 1.25X,用于預覽
  • MPLFLN 5X,用于觀察大于10微米的顆粒物
  • MPLFLN 10X,用于觀察大于2.5微米的顆粒物

     選配:選配MPLFLN 20X,用于高度測量。

軟件控制

  • 圖像放大倍率和像素與尺寸之間的關系均可隨時掌握。

載物臺

電動載物臺X,Y

電動載物臺X,Y

  • 步進電機控制運動
  • *大范圍:130 x 79毫米
  • *大速度 240毫米/秒(4毫米滾珠螺距)
  • 可重復性 < 1微米
  • 分辨率 0.01微米
  • 使用3軸操縱桿控制

軟件控制

  • 掃描速度與所使用的倍率有關,10X時保證掃描速度少于10分鐘
  • 載物臺對齊由工廠在裝配時完成

樣品托架

樣品托架

  • 樣品托架專為在安裝過程中避免發生意外碰撞轉動而特別設計
  • 過濾膜通過樣品托架進行機械式展平
  • 固定上蓋時無需使用工具
  • 樣品托架始終使用載物臺上的插槽1

顆粒物標準片(PSD)

  • 用于驗證系統測量的參考樣品
  • 在檢驗系統控制CIX相應功能的內置功能中使用的樣品
  • 顆粒物標準片(PSD)始終使用載物臺上的插槽2

載物臺插件

2個載物臺插槽

  • 載物臺插槽專門用于樣品托架和顆粒物標準片(PSD)的正確定位

控制器

工作站

高性能預安裝式工作站

  • HP Z440, Windows 10-64位專業版(英文版)
  • 16 GB RAM, 256 GB SSD和4 TB數據存儲空間
  • 2GB視頻適配器
  • 安裝Microsoft Office 2016 (英文版)
  • 具備聯網功能,英文全鍵盤,1000 dpi光學鼠標

擴展插件

  • 電動控制器, RS232 串口和USB 3.0

語言選擇

  • 操作系統和Microsoft Office默認語言可由用戶更改

觸摸屏

23寸觸摸屏

  • 專為CIX軟件優化的1920x1080分辨率

功耗

額定值

  • AC適配器(2), 控制器和顯微鏡鏡架(需要4個插頭)

功耗

  • 控制器:700瓦; 顯示器:56瓦; 顯微鏡:5.8 瓦; 控制盒 7.4瓦
  • 合計:769.2瓦

圖紙

尺寸 (長 x 寬 x 高)

約1300毫米 x 800毫米 x 510毫米

重量

44公斤

系統環境要求


常規使用

溫度

10 - 35 °C

濕度

30 - 80 %

用于安全

環境

室內使用

溫度

5 - 35 °C

濕度

  • *大80%(可達31 °C)(無冷凝)
  • 溫度高于31 °C時可工作的濕度值呈線性下降。
  • 34 °C (70 %)至37 °C (60 %)至40 °C (50 %) 

海拔高度

*高2000米

水平度

*大± 2°

電源及電壓穩定性

±10 %

污染等級 

2

總電壓

II

軟件


軟件

CIX-ASW-V1.1

技術清潔度檢測的專用工作流軟件

語言

GUI :英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語

在線幫助:英語、法語、德語、西班牙語、日語、中文簡體、以及韓語

許可證管理

軟件許可證通過許可證卡激活(安裝時已經激活)

用戶管理

系統可連接到網絡進行域管理

實時圖像

以彩色模式顯示

窗口適應方法

實時探測 
- 為提高速度,顆粒物在被捕捉到時即進行檢測。 
- 如果測量結果不佳,用戶可停止該進程。

硬件控制

XY電動載物臺 
- 操縱桿操作及軟件控制 
- 所選顆粒物的自動或手動再定位

電動物鏡轉換器:僅可使用軟件選擇

電動對焦 
- 操縱桿控制。 
- 軟件自動對焦可用。  
- 使用多點對焦圖進行預測性自動對焦。

光線控制:光強度由軟件進行自動控制

檢查系統

系統驗證 
- 系統通過測量PSD參數進行驗證。 
- 生成OK或NOK的質量判定值

技術清潔度標準

可支持的標準:ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E

全 面符合VDA19:2016推薦要求

顆粒物識別:顆粒物可通過顆粒物類型進行分類(纖維、反光、反光纖維、或其他)

定制標準:用戶定義的標準可輕松確定

檢測配置:系統允許加載、定義、復制、重命名、刪除和保存檢驗標準

顆粒物平鋪視圖

以平鋪視圖顯示檢測到的顆粒物,提升導航效果

存儲完整薄膜

完整濾膜圖片可被存儲,并可使用不同條件進行重新處理

顆粒物編輯

在修改過程中可對顆粒物進行編輯功能包括:  
- 刪除、合并、添加顆粒物。  
- 修改顆粒物類型。

動態報告

使用Microsoft Word 2016模板可生成全 面可定制的專業分析報告

選配解決方案CIX-S-HM


高度測量

選定顆粒物的自動或手動高度測量

- 選配軟件解決方案可對所選顆粒物從上到下進行自動對焦。顆粒物高度由此通過Z坐標*大和*小差獲得。 
- 包含一個附加物鏡(20X MPLFLN)和安裝時激活使用的許可證卡。

環境法規


歐洲

低壓指令 2014/35/EU

EMC指令 2014/30/EU

RoHS指令 2011/65/EU

REACH法規,編號1907/2006

包裝及包裝廢棄物指令94/62/EC

WEEE指令 2012/19/EU

機械指令2006/42/EC

美國

UL 61010-1:2010第3版

FCC 47 CFR第15部分 B子部分

加拿大

CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12)

澳大利亞

1992無線電通信法案,1997電信法案

節能條例 AS/NZS 4665-2005

日本

電氣設備及材料安全法 (PSE)

韓國

電氣設備安全控制法案

節能標簽及標準條例

EMC和無線電通信條例(公告2913-5)

中國

中國RoHS

中國PL法

手冊條例

 


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