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北京賽普瑞生科技開發有限責任公司
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以激光光散射為基礎的擴散波譜學受到越來越多的重視
以激光光散射為基礎的擴散波譜學受到越來越多的重視。傳統的光散射技術并不能有效的表征渾濁或者高濃的體系，而擴散波譜技術則可以做到這一點，能直接對渾濁或者高濃的樣品體系進行直接測試而無需稀釋。另外該儀器可以在無擾動、無破壞性的前提下反應樣品的流變性能。擴散波譜技術是一項非破壞性技術，與傳統的機械流變儀相比，測試范圍寬，測試高頻流變是該儀器的一大特色，另外還可以利用Cox-Merz定律實現頻率到剪切速率的轉化，可以對低至0.2毫升樣品量的少量樣品的微流變研究。而且與傳統的流變技術相比，DWS的測試速度快，測量頻率高，樣品需求量少。我們的DWS RheoLab采用了“雙池回波技術"（EP 1720000 A1），哪怕是在分析慢弛豫或固體狀材料時都能在短短幾分鐘內完成測試。
另外擴散波譜技術還能滿足其他軟物質體系表征的需求，如對凝膠進行凝膠點的測試（溫度，PH值的依賴性）、乳液的穩定性等。DWS尤其適用于那些渾濁的樣品體系，如高濃度懸浮液、乳劑、料漿、凝膠體、泡沫等。這是一項新興的（上世紀九十年代初期才被提出，本世紀才被商品化）表征技術，可以與傳統的光散射、流變等儀器形成良好的互補，用于軟物質的表征。
配置參數：
※ 標準配置前散射模式，提供背散射模式選項，提供整體DWS解決方案，通過電子快門系統實現兩種模式轉換；
※ 通過軟件進行數據采集和分析，用戶可自定義多腳本運行，進行在線微流變分析，可以得到粘彈模量、均方位移、平均光子自由程、蠕變柔量、損耗角正切和平均粒徑（利用背散射模式）；
※ 自動測量得到平均光子自由程l*和吸收長度la。
※ 半導體激光光源，685nm，40mW，噪音小于0.5%，單模TEM00，相干長度＞1m，預熱時間15分鐘，激光路徑處于密閉空間，安全等級為1級（根據EN 60825-1/11.01標準）；
※ 兩個高檢測效率的單光子計數檢測器，量子效率＞65% @ 685nm，標準死時間20ns；
※ 雙通道快速多tau/線性相關器，最小采樣時間12.5ns；
※ 測試溫度范圍（4℃ - 100℃，可升級至180℃選項），在實驗室溫度不高于23℃時溫控精度+/-0.02℃，露點以下測量時需接干燥空氣吹掃，儀器提供接口；
※ 儲存模量G'和損耗模量G"測量范圍1Hz-10MHz，彈性范圍：1Pa-50kPa；
※ 可測試1mPas以上的低粘度樣品；
※ 樣品池支架光程范圍1-10mm，可使用標準的光學池，使用1mm樣品池時樣品需求量降至150μL；
※ 儀器無需光學平臺，操作保養更加簡捷。
產品功能：
DWS RheoLab型擴散波譜儀采用了前散射和背散射（選項）技術，能夠分析軟物質的微流變以及超濃懸浮液的平均粒徑。
采用雙池回波技術（EP 1720000 A1），用于非遍歷性樣品表征，幾分鐘內得到儲存模量G'和損耗模量G"，頻率上限可達10M Hz ；適用樣品濃度＞1%（和粒徑有關），澄清樣品需加入示蹤粒子；可以測量穩定性，老化性以及凝膠點等。
使用背散射（選項）技術測量平均粒徑，測量范圍：50nm-1μm（和樣品相關）；適用于顆粒濃度20%以下的牛頓流體體系，能獲得多分散性樣品的平均粒徑。
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