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全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀(可測鹵素)

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更新時間：2024-05-29 11:48:31瀏覽次數：68次

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產品簡介

簡要描述：具采用的密封充氣紫外光學系統和OPI水平觀測等離子光學接口完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術，有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬（130nm-770nm)等特性，在ICP-OES 領域開拓了全新的應用，可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素。

詳細介紹

儀器簡介：
具采用的密封充氣紫外光學系統和OPI水平觀測等離子光學接口
完成消除水平觀測時尾焰的影響、全譜CCD技術和多視角等離子體定位等新技術，
有高靈敏度、高精度以及波長范圍寬（130nm-770nm)等特性，在ICP-OES 領域
開拓了全新的應用，可分析包括ppm級鹵素在內的73個金屬和非金屬元素。

技術參數：
革命性的全新設計，真正的全譜直讀！！

1.光譜范圍130－770nm
2.三光柵:3600線/mm(2個),1800線/mm(1個)
3.動態范圍大于等于8個數量級
4.可在30秒內完成73個元素的全譜定量測試，分析速度:>=60個樣品/小時
5.*短積分時間0.1ms,可與HPLC/GC聯機使用

主要特點：
0.可以測鹵素的ICP
1.一維色散＋32個CCD檢測器設計，檢測器無需超低溫冷卻，無需氬氣吹掃保護
2.全波長覆蓋，為130－770nm的波長范圍，可以分析ppm級鹵素
3.密閉充氬循環光路系統，檢測190nm以下譜線，無需氣體吹掃
4.3秒實現真正全譜數據采集，分析速度*快
5.所有氣體流量采用質量流量計計算機控制，矩管位置3維步進馬達計算機控制自動化程度高