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掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II2

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品簡介lexSEM1000II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20kV下實(shí)現(xiàn)4.0nm的分辨率

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品簡介

lexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“SEM MAP”，這個(gè)功能可彌補(bǔ)電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)最直觀的視野移動。

· 盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實(shí)現(xiàn)4.0 nm的分辨率

· 憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時(shí)實(shí)現(xiàn)的畫質(zhì)

· 全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實(shí)現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力

· 全新的定位功能“SEM MAP”，支持觀察時(shí)的視野搜索和樣品定位

· 大直徑（30毫米2）無氮EDS檢測器，可快速進(jìn)行元素分析*2

產(chǎn)品參數(shù)

項(xiàng)目	內(nèi)容
分辨率*3	4.0 nm（二次電子像、加速電壓：20 kV、高真空模式） 15.0 nm（二次電子像、加速電壓：1 kV、高真空模式） 5.0 nm（背散射電子像、加速電壓：20 kV、低真空模式）
加速電壓	0.3 kV～20 kV
倍率	×6～×300,000 （照片倍率） ×16～×800,000 （顯示器顯示倍率）
低真空設(shè)置	6～100 Pa
電子槍	集中燈箱（Pre-Centered Cartridge Filament）
樣品臺	3軸馬達(dá)驅(qū)動樣品臺 X：0～50 mm、Y：0～40 mm、Z：5～15 mm T：-15～90°、R：360° 可觀察范圍：直徑64mm（R聯(lián)用）*4
樣品尺寸	直徑80 mm（選配：直徑153mm）
樣品高度	40 mm
尺寸	機(jī)體：450（寬度）×640（進(jìn)深）×690（高度） mm 電源盒：450（寬度）×640（進(jìn)深）×450（高度） mm
選項(xiàng)	· 高敏感度低真空檢測器（UVD2.0） · 能量色散型X射線檢測器（EDS）
軟件	Multi Zigzag（連續(xù)視野圖像導(dǎo)入功能）